隨著可重構智慧表面 (Reconfigurable Intelligent Surface；RIS) 技術日益受到關注，並被視為下一代高頻通訊解決方案，建構準確且彈性的量測環境已成為 RIS 技術研究中的關鍵要素。RIS 技術能讓高頻訊號穿透室內環境，可有效解決毫米波 (mmWave) 通訊在穿透建築物窗戶時的訊號衰減問題。
韓國電子通信研究院 (ETRI) 近日展示其最新開發的 RIS 技術，採用 Anritsu 安立知的向量網路分析儀 (VNA) MS46122B 作為關鍵量測儀器，即使在有限空間的設置中也能展現高精度的量測表現。ETRI 新開發的技術採用透明 PET 薄膜為基材的微型天線陣列，可直接貼附於窗戶表面，無需使用主動式中繼器，即可最大化訊號穿透能力。
在照片中呈現的實驗配置中，ETRI 使用 Anritsu 安立知的雙埠 VNA MS46122B，對比貼有 RIS 薄膜的玻璃與普通玻璃之間的 S 參數和傳輸損耗。MS46122B 是一款 USB 外接式精巧型向量網路分析儀，最高支援 43.5 GHz，無論在實驗室或現場環境中，皆能提供穩定且可重複的高頻量測，且無需複雜的傳統設定流程。
Anritsu 安立知的 VNA 已廣泛應用於各大研究機構與產業界，評估高頻材料、天線與訊號傳輸特性。MS46122B 正逐漸成為量化評估 RIS 與超表面 (metasurface) 技術效能的核心儀器。該解決方案具備可擴充性，支援 mmWave、FR2 與 FR3 頻段，是研究團隊在推動 RIS 技術實現 5G-Advanced 與未來 6G 時代商用化部署的理想選擇。
Anritsu 安立知表示：「RIS 是解決高頻通訊室內涵蓋問題的核心技術，Anritsu 安立知的 MS46122B 是一款體積精巧且高性能的 VNA，即使在空間受限的環境中也能確保量測結果的可靠性，為 RIS 技術的驗證和商轉奠定堅實的基礎。」
