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可发光矽半导体材料发展动向
 

【作者: 高士】2006年11月09日 星期四

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j标:前言


目前半导体元件大多使用矽(Silicon),尤其是数位电子科技几乎都是建立在矽半导体材料上。矽半导体被广泛应用的主因,是因为矽的物理特性稳定,而且地球上矽原料的蕴藏量极为丰富;矽的优点非常多,几乎无法以其他材料来替代,但矽的缺点也随着光学科技的发展而逐渐浮现。例如Bulk结晶状态的矽无法发光,因此到目前为止,发光二极体领域几乎是等剧毒,而且是蕴藏量有限之Ⅲ—Ⅴ族化合物半导体的天下,如果考虑到未来光学元件与积体电路整合的发展,若能使用矽材料制作发光二极体的半导体雷射,主动元件之间的信号直接利用光线传输,不论是材料稳定性或是积体电路之间的整合性功能,都会比其它材料更出类拔萃。


发展定位

矽晶圆在氟化氢溶液中进行阳极化成时,它的表面会形成一层黑色接近褐色的薄膜,这是矽晶圆局部电气化学溶解反应后所造成的结果,因此Porous Silicon(以下简称为P-Si )又称为「多孔质矽」。 1956年贝尔研究所的Uhlir氏进行矽晶圆电解研磨实验时,无意中发现多孔质矽膜,1984年英国Pickering发表研究报告指出,P-Si可以显示可视光。


Pickering氏认为,P-Si内部有非结晶(Amorphous)物质,是造成P-Si可以显示可视光的主要原因。以往单结晶矽无法显示可视光,主要原因是矽在Bulk结晶状态的能隙(Band Gap)非常小,处于红外波长范围内;而且矽属于间接迁移型半导体,即使发光,其效率也非常低。因此Pickering的研究报告公布后,立刻引发全球各研究单位的高度重视。1990年,Canham提出「量子尺寸效应可能性」的论点,隔年Canham与Gosele氏共同确认P-Si的光吸收端短波长化特性,P-Si作为光电材料的潜能,从此受到肯定。 P-Si的的多孔质化特点,意味著作为发光元件,P-Si的发光效率将可大幅增加,且发光波长可以从红外线一直延伸到可视光范围。


P-Si的特性

将矽晶圆浸泡在氟酸与乙醇(Athanol)混合液中,再对矽晶圆施加电流密度,在数分钟至数十分钟后进行电解反应,矽晶圆表面就会产生局部性溶出反应,进而形成微米以下的微细奈米(Nano)结构。


(图一)是P-Si的扫描式电子显微镜(SEM))断面影像,照片上方是P-Si的表层,下方是P-Si的结晶;(图二)则是SEM的局部放大断面,图中可以清楚看到奈米大小的超微粒子。


《图一 P-Si的SEM断面》
《图一 P-Si的SEM断面》
《图二 SEM的局部放大断面》
《图二 SEM的局部放大断面》

上述P-Si若用紫外线照射激发,可以显示10%左右的高效率发光,即使在明亮室内,也能够藉由肉眼观察红色发光。 P-Si当作发光元件使用时,必须注入电流才能发光,此时它的发光效率,比紫外线激发方式还低。根据最近的研究报告显示,pn接合构成的发光二极体,可以获得大约0.1%左右的发光效率。根据以往LED的发展经验,一般认为改变表面处理物质,理论上可以控制P-Si相异波长的发光,亦即P-Si可以制成各种波长的发光元件,甚至可被应用在全彩主动式发光显示器等领域。


若将P-Si与传统发光二极体常用的Ⅲ—Ⅴ族化合物半导体相互比较,P-Si的特征则有下列数点:


可制成光学积体电路

若在相同晶片上搭载不同材料时会面临各类困难,用积体电路使用的矽半导体材料,制成光电积体电路非常有利,P-Si与传统矽半导体材料都属于矽,适合制成积体电路。


具环保特色

矽半导体材料蕴藏量丰富,矽氧化状态含有大量砂石,无公害,是能适应周围环境的物质。

具备多种发光色

只要改变制作条件,便可以大范围变更发光色。阳极化成时或是阳极化成后,一旦照射光线,P-Si便藉由光化反应,使发光波长可以短波长化,一般P-Si的发光色大多是红色至橙色,利用上述处理过程,也可以获得蓝色或绿色等发光材料。此外采取加大阳极化成的电流密度、降低氟酸溶液的浓度、或是电气化学氧化,都能够使发光波长短波长化,因此P-Si利用光线作波长移动的自由度非常宽广。


可改变折射率

P-Si利用阳极化成条件(基板与电流密度等等)可以大幅改变折射率,因此可制作高品质的多层膜Mirror或是光导波路。基板比阻抗与阳极化成电流密度越高,P-Si的多孔度便从高折射率开始变低。巧妙地应用此特性,例如阳极化成时,电流密度依序作高→低→高→低之变化设计,可以制作诱电体多层膜Mirror或是滤光膜片(Filter)。


具光学异方性

P-Si可以轻易拥有光学异方性,可制作具备偏光选择性的光学元件。 P-Si的微细矽,拥有复杂连接构造,该复杂连接是造成微异方性的主要原因:如果使微异方性的方向整合成相同方向的话,例如阳极化成时照射直线偏光(或是使用结晶面为110的矽晶圆),就会形成巨视(Macro)光学异方性。类似这种光学异方性,例如改变光的偏光状态,就可以获得与波长板或偏光时、具有依存关系的反射镜(Mirror)。


要注意的是,P-Si以外的化合物半导体,例如 等,经过阳极化成处理后,同样也可以多孔质化。另外,P-Si若被放置在高湿度环境下,自然氧化后,会产生矽烷(Silane)有毒气体。


目前P-Si在相关业界的应用现况大概有以下数项:


  • ●由于P-Si的热传导率非常小,几乎与空气一样,且当从基板剥落的薄膜照射输出功率只有100mW雷射光线时,P-Si的温度就会暴增到 ,引发各种现象。因此国外业者开始利用此特性,开发热诱导型超音波元件。


  • ●国外业者也将P-Si当做电子释放源(Field Emitter),开发全彩平面显示器。


  • ●P-Si的电气阻抗与折射率,随着周围环境而变化,主要原因是P-Si的内部结构非常复杂,相对地表面积也变大,电气与光学特性亦随着表面状态而变化。目前国外业者正利用此特性开发感测器(Sensor)。



P-Si的应用研究

P-Si的发光频谱(Photo Luminescence Spectrum;PL)会随着时间发生性变化(经时变化),因此研究人员进行阳极化成反应时,刻意改变氟化氢溶液的温度,借此观察P-Si中心部位的经时变化,接着从P-Si特性中分离峰值,调查奈米矽与其它物质的发光起源。


具体实验步骤是以矽晶圆背面当作电极进行 溅镀,此时为防止电极腐蚀,因此覆盖塑胶以作阳极化成,化成条件如下:


  • ●电流密度


  • ●化成时间


  • ●液温


  • ●激发光源



最后量测P-Si的发光频谱特性。


根据实验结果显示,P-Si的发光波长,随着时间的增加,朝向高能量方向移动,(图三)与(图四)比较时,Blue shift较大。主要原因是形成P-Si时的峰值位置,刚好处于的高能量侧,温度越高时反应速度越快,P-Si的尺寸则相对变小,所产生的量子尺寸效应造成能隙变宽,能量变大、蓝色发光越明显。因此P-Si在高能量侧发光,经时变化Silicon Size较小时,Blue shift比较大。


此外经过峰值分离的频谱,可以分成能量不会变化的峰值A,与随着时间移动的峰值B,研究人员根据峰值A的发光强度已经呈现变弱现象,研判可能是容易受到氧气影响的其它物质所致。


至于峰值B,根据量子尺寸效应所引发的氧化与Blue shift现象,研判可能是奈米矽所造成。研究人员综合以上现象,认为发光现象并不是单纯P-Si造成,其它物质所引发的可能性也相当高。


《图三 液温PL特性(1)》
《图三 液温PL特性(1)》
《图四 液温PL特性(2)》
《图四 液温PL特性(2)》
《图五 液温1小时后的峰值分离结果》
《图五 液温1小时后的峰值分离结果》
《图六 液温3天后的峰值分离结果》
《图六 液温3天后的峰值分离结果》

日本兵库教育大学小山氏针对P-Si的PL特性作进一步确认,小山教授从比阻抗,p型Si(100)晶圆表面切割试片,试片的背面当作电极作Al溅镀覆膜,之后再用高溶点蜡(Wax)保护,接着将试片当作阳极,白金板当作阴极,在铁氟龙反应槽中设定溶液、电流密度、温度时间的条件,将表面领域阳极化成制成P-Si。


P-Si再以半导体雷射的光束直径激发发光,光线通过光纤被导入Monochrometer内,以光电子增幅器量测P-Si的PL特性。


(图七)是设定温度、电流密度、阳极化成时间的条件,制成P-Si的PL经时特性。由于P-Si的发光强度与频谱会随着环境改变,因此将P-Si固定在光学显微镜下,收敛成直径光束,依此观察60分钟~5天的经时变化。有关发光频谱强度的波长分布,此处假设灯色温,频谱为黑体辐射的前提下进行校正。


《图七 P-Si的PL经时间特性》
《图七 P-Si的PL经时间特性》

根据测试结果显示,PL发光频谱几乎呈对称性高斯(Gauss)分布,甚至可以用左右的精度决定峰值位置,峰值的能量化成后60分钟时,整体呈一定值持续增加(图八),5天后最初强度数小时之内持续增加,之后便开始减少。虽然矽微粒子的能隙与形状有关,不过随着粒子尺寸变小,能隙却增加,出现所谓的「量子尺寸效应」(图九)。


《图八 P-Si的发光峰值能量时间变化特性》
《图八 P-Si的发光峰值能量时间变化特性》
《图九 P-Si的发光峰值能量时间变化特性》
《图九 P-Si的发光峰值能量时间变化特性》

(图十)是将(图七)的发光频谱,当作粒子大小分布特性而重新描绘的结果,根据(图十)可知,重新描绘后 大小的矽微粒子,经过数日后变成以下图示。


《图十 P-Si的硅微粒子大小的经时特性》
《图十 P-Si的硅微粒子大小的经时特性》

综合以上测试结果,证实P-Si的PL经时特性,随着试片的制作条件出现劣化,以及经过数月才会稳定等各种结果。如果分析结晶粒径的变化,反而可以从P-Si氧化过程,深入探讨它的表面形状。不过整体而言,可以确认P-Si的确具有PL经时特性。


《图十一 硅微粒子大小的经时特性模型》
《图十一 硅微粒子大小的经时特性模型》

如上所述P-Si的制作非常简易,而且只要施加电压就会显示可视光,制作P-Si时使用浓度剧毒氟化氢水溶液,基于未来实用上安全考量,研究人员正开发更为安全的制作方法:第一阶段尝试降低氟化氢的浓度,根据实验结果显示,可用浓度只有氟化氢水溶液,并且能也可用非常低的电流密度制作能显示可视光的P-Si(图十二)。


《图十二 浓度0.3%氟化氢制成的P-Si实际发光外观》
《图十二 浓度0.3%氟化氢制成的P-Si实际发光外观》

此外阳极化成时若照射直线偏光,Si面内会形成具备光学异方性的P-Si膜层,应用该光学异方性,可以藉由偏光状态制成反射率相异的反射镜(Mirror) ,或是可以改变光线偏光状态的波片(波长板),(图十三)是P-Si的直线偏光度异方特性。


《图十三 P-Si的直线偏亮度异方特性》
《图十三 P-Si的直线偏亮度异方特性》

结语

最近几年随着半导体加工技术的进步,各种消费性电子产品功能与体积,不断呈现反比例成长,但也衍生出电路板发生电磁波干扰、发热、信号衰减、波动等亟待解决的课题。此外基于未来光学元件与积体电路整合的发展,矽(Silicon)半导体材料如果可以发光,主动元件之间的信号直接利用光线传输,届时,包含电脑在内,电子产品的体积、功能、演算速度、电磁波干扰、发热等问题可望被彻底改善。尤其P-Si内部具有无数个奈米大小的微细结构,一般认为其与可视光的特殊性质具有深厚的关系,因此P-Si的重要性受到全球相关业界高度嘱目。


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