解决高速设备验证挑战 安立知推模组化ONA

对於高速设备检验，工程师最常遇到的困难大概可以区分成光与电两大部分。电的部分主要在於讯号完整性的测试，必须针对最基本的损失与反射特性进行验证。安立知在讯号完整性上，提供了完整的验证方式包含VNA即时模拟眼图与Jitter测试进行讯号完整性分析，另外也提供Intel Delta L方案以进行高速PCB量测。

图一 : 安立知业务暨技术支援部??理林升鸿(右)、业务暨技术支援部专案??理程昭团(左)

事实上，即使是性能最高的PCB材料也存在损耗和失真，而对於高速缆线的传输部分则需要进行阻抗、偏斜（Skew）、串扰（FEXT、NEXT）和反射等测试。至於光的部分，主要挑战则在於光的量测如何进行VCSEL与photodiode的3Db频宽测试，另外还包括相位测试等。

安立知业务暨技术支援部??理林升鸿指出，针对高速设备检验的挑战，安立知（Anritsu）推出了快速、准确的光电测量VectorStar ME7848A-0200系列光电网路分析仪（ONA），透过使用了MN4765B O/E模组，便可启用对E/O和O/E错误校正後的传递函数、群组延迟和回波损耗测量组件与子系统等。
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