现今半导体的需求大幅成长，由於COVID-19疫情延烧，带动许多产业的数据传输量急剧增加，此态势驱使半导体朝着更高的功能复杂性和整合效能进展，为了实现更高的性能和可靠性以及更低的功耗，半导体测试更彰显重要程度。爱德万测试(Advantest Corporation)提供广泛的产品组合及随需应变的服务，近三年开展的两个并购项目打开了系统级测试市场的大门，大幅拓展公司业务。

图一 : 爱德万测试台湾董事长暨总经理吴万锟认为未来晶片效能将更趋於复杂及高要求增加了测试难度，带动半导体测试相关设备的需求。(摄影/ 陈复霞)

爱德万测试推出专为V93000平台设计的最新Link Scale系列数位通道卡，再添软体功能测试与HSIO SCAN测试效能，能够针对先进半导体制程与产能进行基於软体的功能测试与USB / PCI Express (PCIe) SCAN测试。该系列为V93000平台提供近似系统级测试的能力。

如今许多复杂的系统单晶片(SoC)元件、微处理器、图形处理器与AI加速器都整合了高速数位介面，例如USB或PCIe。最新Link Scale卡透过这些介面，快速传输功能测试与扫描测试内容，可同时提升测试涵盖率及加快测试速度。藉由采用与其他V93000板卡相同的外型规格，Link Scale卡可以完全整合在测试头内。
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