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創意電子推出90奈米ARM926EJ測試晶片
 

【作者: 劉筱萍】   2006年04月13日 星期四

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SoC設計服務廠商創意電子(GUC, Global Unichip Corp.)近日推出90奈米ARM926EJ硬核(hard-macro)及其測試晶片(testchip)UTP0010A,可大幅縮短系統設計的建構時程,並為ARM核心整合的過程降低許多風險。UTP0010A以可合成的ARM926EJ-S核心碼(synthesizable core)設計而成,協助客戶在發展90奈米系統單晶片(SoC)的相關產品如低耗電手持裝置、影音壓縮/解壓縮及網路通訊應用等方面,達到縮短下線時程(Time to tapeout)和加速上市時程(Time to market)的目標。


UTP0010A採用台積電90奈米低功率(LP)製程技術,效能表現最高可達250MHZ,配備有1組AHB輸出入介面、16KB/16KB I/D caches記憶體、4KB/4KB I/D TCMs記憶體(Tightly Coupled Memory)、BGA388封裝等基本規格。UTP0010A已在創意電子標準的AMBA-based矽智財/系統單晶片(IP/SoC) GPrimeTM驗証平台上,得到完整的工程驗證。為了協助客戶快速導入設計程序,創意電子將提供測試晶片模組(testchip core module)、規格書(datasheet)、使用手冊(application note)、電路板參考設計圖(reference board schematics)等設計工具。


創意電子總經理兼營運長賴俊豪表示:「藉著推出90奈米ARM926EJ測試晶片UTP0010A,創意電子將繼續深耕深次微米的技術領域,提供專業的核心整合設計服務。SoC的設計研發首重時間的爭取,UTP0010A將扮演縮短系統建構時程的關鍵角色。」


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