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爱德万将展示促进5G技术采用的最新IC测试解决方案
 

【CTIMES/SmartAuto 报导】   2019年07月10日 星期三

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爱德万测试(Advantest Corporation)将於7月9~11日,藉旧金山莫斯康展览中心(Moscone Center)登场的2019 SEMICON West半导体设备展,向业界展示最新IC测试产品,包括V93000 Wave Scale Millimeter解决方案。

爱德万测试全球行销传播??总Judy Davies表示:「我们十分荣幸能藉由这次机会,向大家展示最新产品组合。业界欲实现5G通讯,关键先进IC必不可少,而爱德万测试不仅能解决先进IC的测试挑战,更能加速从人工智能/机器学习、智慧制造到智慧城市,各类尖端技术的发展。」

产品展示

爱德万测试将展示最新Wave Scale Millimeter解决方案,开创业界首款高度整合、模组化多部位毫米波 (mmWave) ATE测试方案,能以最隹成本效率,测试5G-NR毫米波元件,范围达70GHz。这套系统具备多频毫米波频率测试所需要的多部位并行测试能力与多重功能,协助客户缩短最新毫米波频率产品设计的上市时程。

爱德万测试亦安排了特别的汽车展示,向大家说明T2000系列测试机如何协助客户,提升从感测器、处理器、动力传动到通讯系统各类汽车元件的效能和可靠度。

除此之外,摊位上还将运用数位图像介绍其他产品,包括针对系统单晶片 (SoC) 系统级测试的Advantest Test Solutions (ATS);提升整体生产力与测试品质的一系列软体工具与服务;针对SATA、 SAS和PCIe Gen 4固态硬碟 (SSD) 系统级测试的MPT3000 平台;以及瞄准DRAM、

3D Xpoint和快闪记忆体元件的T5500系列与T5800系列。

技术发表

除了静态展览以外,爱德万测试亦与SEMICON West同时举办的「年度测试愿景论坛」(Test Vision Symposium) 扮演要角。爱德万测试业务开发主任Derek Floyd将出任论坛??主席;系统规划资深主任Kotaro Hasegawa则将以「最新SiP封装趋势与测试挑战」(New SiP Packaging Trends and Testing Challenges) 为题发表演说,并叁与同一天登场的海报发表。

人才培育

展??未来,爱德万测试将再次担任「SEMI High Tech U」学习营的共同赞助商。与SEMICON West一同举办的学习营活动为期三天 (7月9~11日),目的是帮助对於科学、科技、工程与数学 (STEM) 有浓厚学习兴趣的高中生更了解半导体产业,并透过叁观展览摊位、近距离接触产业现况,探索未来职涯可能。

爱德万测试的工作人员将带着学员进行各种课程模组,内容涵盖工程设计、批判性思考和社群媒体,并练习模拟面试,亦将负责主持最後一天的活动。

關鍵字: 5G  愛德萬 
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