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因应百万兆级运算测试新挑战 爱德万推出次世代V93000测试机
 

【CTIMES/SmartAuto 陳復霞 报导】   2020年10月22日 星期四

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V93000 EXA Scale系统单晶片测试系统

爱德万测试发表最新次世代V93000测试机。(资料/ADVANTEST;摄影/陈复霞)
爱德万测试发表最新次世代V93000测试机。(资料/ADVANTEST;摄影/陈复霞)

半导体测试设备供应商爱德万测试 (Advantest Corporation) 针对运算效能达百万兆级 (Exascale) 的先进数位IC,发表最新次世代V93000测试机。该系统搭载最新测试头,结合Xtreme Link科技及EXA Scale通用数位和电源供应卡,不仅能支援最新测试方法,更能降低测试成本、缩短产品上市时程。相较於上一世代的测试头研发使用已近二十年,预期在思考测试如何演进下所研发设计的新测试头能够得以支援未来发展。至於可扩充的解决方案拓及各式大小的测试头,并具备在单一测试系统上,针对数位、射频、类比和电源等等混合元件功能进行测试的能力。

现今先进的半导体制程带来技术的变革,随着行动处理器、人工智慧(AI) 和高效能运算(HPC)晶片持续进化,随着无数个资料来源而需要处理的资料量呈现爆炸性成长,而相对产生极大量的扫描数据、极端电源需求、快速的良率学习和多工同测的配置,让收集资料数据必须快又很准,於严格要求下所衍生的测试挑战在在都需要解决。

爱德万测试最新V93000 EXA Scale世代强调极端运算能力,在原V93000架构上,运用创新技术解决上述挑战,而且与现有平台具有相容性。所有EXA Scale卡都配备爱德万测试最新一代8核心的测试处理器,以独特的能力加速并简化测试工作。此外,V93000 EXA Scale系统还采用爱德万测试专利Xtreme Link科技,乃是专为自动测试设备(ATE)所设计的通讯网路,能执行高速资料连接、嵌入式运算能力以及即时卡对卡 (card-to-card) 通讯。

随着大量数位设计所导致的爆炸性成长的扫描资料需求,这套系统设计了最新Pin Scale 5000数位卡,Pin Scale 5000以可达5Gbit/s的速度为扫瞄测试奠定了新标准,同时提供深度最大的向量记忆体,并运用Xtreme Link科技,实现快速处理能力,让客户能够为自家晶片选择最有效率的扫描方法。

V93000 EXA Scale系统多弹性且稳定度高,在供电电压小於1V同时能提供高达好几千安培的超高电流需求下,使得ATE的电力传输能力成为决定性关键。XPS256电源供应卡是另一项业界创新,配备单一DPS卡就能涵盖所有电源需求:极细粒度电源、无限量且具弹性的结夥,以及超凡的动态与静态效能。此强化内部结构效能的自有技术符合一通道多应用,单卡上能有不同的功能。

Pin Scale 5000数位卡及XPS256电源供应卡均具备256个通道,在保有V93000领先业界、高度整合优势的同时,使得密度倍增。多工同测的设置可以部署在较小型的实体系统上,藉此减少基础架构成本和空间需求。

V93000 EXA Scale世代的现有V93000测试载板和Smart Scale卡,都能与最新V93000 EXA Scale世代无缝接轨,达到最隹资产利用。也藉由延续使用SmarTest软体,让客户拥有庞大建置基础的软体架构和工具,可规划在测试成本上做最有效的发挥。

迈向百万兆级运算时代之际,不论是在效能、测试成本、品管及量产时程等方面所面临的极端测试挑战,透过EXA Scale为V93000平台注入的创新技术获得解决。爱德万测试目前已出货数十套V93000 EXA Scale系统。

關鍵字: 测试设备  愛德萬 
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