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欧洲RESIST研究计画:汽车电子耐用性更上层楼
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2018年05月25日 星期五

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RESIST 研究计划成员致力研发新方法开发灵活的电子系统,过去三年来,他们的研究成果更是对新一代失效安全汽车电子做出贡献,满足最高品质、安全与效能标准,并进一步强化德国汽车与航空业制造商与供应商的竞争力。

汽车与飞机的电子系统日益精密且复杂,其可执行的功能不断增加,同时,外观变得更为精巧、轻量。这提高了元件的效能,并降低能源消耗。另一方面,微型化技术亦增加电子元件对於外部影响的灵敏度,以汽车元件所面对的严苛环境与操作条件而言,更是如此。

为了满足电子元件在这样环境下的最高可靠性需求,开发新的设计方法与解决方案至关重要,尤其是对於现代高度整合的系统而言,仅关注耐用性的作法已然不足。安全关键电子元件的目标在於实现「运作状态」侦测的早期警告系统,以期在故障发生前即加以辨识,若可能则进一步修正。

为了达到此目标,德国与欧洲层级的 RESIST 计划成员,针对极高效能微电子和奈米电子元件的设计概念进行研究,期??让这些元件变得可靠且耐用。德国佛朗霍夫 IIS 研究所适应性系统工程 (EAS) 部门协调研究工作的新方法、晶片设计与系统。

RESIST 计划团队成员包括:空中巴士创新中心、英飞凌、MunEDA、Nexperia、罗伯特博世 (RobertBosch) 及福斯汽车 (Volkswagen)。罗伊特林根大学 (ReutlingenUniversity)、慕尼黑工业大学 (Technical University of Munich) 和布莱梅大学 (University of Bremen) 则为大学合作夥伴。

为汽车驾驶人实现零故障目标的方法与晶片架构

本计划有助提升未来汽车与航空应用中电子元件的失效安全,让生命周期从目前的 10 至 15 年延长为 25 至 35 年。佛朗霍夫 IIS/EAS 部门专案经理 Christoph Sohrmann 博士表示:「为了同时考量开发作业的所有子领域,本联盟体现了整体价值链。RESIST 成员所开发的新型方法,在微晶片或系统的设计阶段,即可预测後续操作的行为表现。例如,这包含可十分精准呈现电子电路老化程度的新流程,藉此精确预测长期的表现。因此,系统设计期间即可将这些结果纳入考量。

Sohrmann 表示:「我们不只着重方法,也开发特殊的晶片元件,进一步将结果最隹化。举例来说,本计划产生的『早期警告系统』中,感测器会持续监控电路的运作,因此能够提早辨识受磨耗而可能产生的故障,并向汽车驾驶人或维护服务人员回报。」此外,新类型的耐用元件可完全保护电路不受静电放电影响,避免缩短电子元件的生命周期。整合这些措施後,元件将更能够承受汽车内的操作负载,进而延长失效安全时正常运作的时间。

为了评估新方法与晶片架构,RESIST 成员已在多个展示计划中进行测试。其他计划所打造的失效安全直流转换器甚至在其电路的重要子元件故障後仍维持正常运作。如此即可确保所有电子元件与电动操作安全系统可持续运作。在航空业的部分,这些结果已於系统中测试,以达成最隹化的气流控制。分散式致动器可让机翼表面针对主要气流的情况,实现高度失效安全及高效回应。

RESIST 计画在德国隶属欧洲 EUREKA-CATRENE 架构,由德国教育研究部 (BMBF) 资助约 500 万欧元资金。该研究亦属於欧盟的同名专案,来自荷兰与法国的其他公司与研究机构亦叁与其中。由荷兰恩智浦半导体(NXP Semiconductors Netherlands) 负责整体协调工作。

關鍵字: 汽車電子  RESIST  Infineon  NXP 
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