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愛德萬測試將於首爾SEMICON展示最新測試產品技術
 

【CTIMES/SmartAuto 陳復霞整理 報導】   2017年02月06日 星期一

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(日本東京訊)半導體測試設備供應商愛德萬測試(Advantest)將於2017年韓國國際半導體展SEMICON Korea展示多項測試解決方案,展期即將在2月8~10日於首爾COEX會展中心盛大登場。愛德萬測試同時也是2月8日晚間歡迎晚宴的白金級贊助商。

愛德萬將透過實際操作以及數位圖像說明,展示各式SoC與記憶體系統測試解決方案。
愛德萬將透過實際操作以及數位圖像說明,展示各式SoC與記憶體系統測試解決方案。

愛德萬測試將在位於C展館的第1612號攤位,展示專為韓國市場設計的最新測試解決方案,和已經過嚴謹測試的產品。主打產品與服務包括先進的測試與測量平台、能有效提升效能的模組和通道卡、電子束光刻與計量掃描式電子顯微鏡(Metrology-SEM)系統、性能測試用基板、燒機測試基板和探針卡。

與會貴賓將可透過現場展示、數位圖像以及深入的演講內容,進一步了解愛德萬測試的技術內涵,以及最新發表的創新IC測試技術。

韓國愛德萬測試SoC部門主任Jeongseob Kim亦將在2月9日的測試論壇上,發表「於ATE系統測試IoT模組之挑戰」(The Challenges of Testing IoT Modules on ATE Systems)技術論文。發表時間為下午2:00,地點在COEX會展中心會議室(南)318室。

展會資訊

展會名稱: 2017年韓國國際半導體展SEMICON Korea

時間: 2017年2月8~10日

地點: 韓國首爾COEX會展中心

展位: C展館第1612號攤位

展示重點: 多項測試解決方案技術內涵,最新發表的創新IC測試技術,以及深入的演講內容(測試論壇--2月9日下午2:00發表「於ATE系統測試IoT模組之挑戰」(The Challenges of Testing IoT Modules on ATE Systems)技術論文)。

關鍵字: SEMICON  半導體測試設備  模組  通道卡  電子束光刻  計量掃描式  電子顯微鏡  基板  愛德萬  Advantest 
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