帳號:
密碼:
CTIMES/SmartAuto / 新聞 /
愛德萬測試將於首爾SEMICON展示最新測試產品技術
 

【CTIMES/SmartAuto 陳復霞整理 報導】   2017年02月06日 星期一

瀏覽人次:【5193】
  

(日本東京訊)半導體測試設備供應商愛德萬測試(Advantest)將於2017年韓國國際半導體展SEMICON Korea展示多項測試解決方案,展期即將在2月8~10日於首爾COEX會展中心盛大登場。愛德萬測試同時也是2月8日晚間歡迎晚宴的白金級贊助商。

愛德萬將透過實際操作以及數位圖像說明,展示各式SoC與記憶體系統測試解決方案。
愛德萬將透過實際操作以及數位圖像說明,展示各式SoC與記憶體系統測試解決方案。

愛德萬測試將在位於C展館的第1612號攤位,展示專為韓國市場設計的最新測試解決方案,和已經過嚴謹測試的產品。主打產品與服務包括先進的測試與測量平台、能有效提升效能的模組和通道卡、電子束光刻與計量掃描式電子顯微鏡(Metrology-SEM)系統、性能測試用基板、燒機測試基板和探針卡。

與會貴賓將可透過現場展示、數位圖像以及深入的演講內容,進一步了解愛德萬測試的技術內涵,以及最新發表的創新IC測試技術。

韓國愛德萬測試SoC部門主任Jeongseob Kim亦將在2月9日的測試論壇上,發表「於ATE系統測試IoT模組之挑戰」(The Challenges of Testing IoT Modules on ATE Systems)技術論文。發表時間為下午2:00,地點在COEX會展中心會議室(南)318室。

展會資訊

展會名稱: 2017年韓國國際半導體展SEMICON Korea

時間: 2017年2月8~10日

地點: 韓國首爾COEX會展中心

展位: C展館第1612號攤位

展示重點: 多項測試解決方案技術內涵,最新發表的創新IC測試技術,以及深入的演講內容(測試論壇--2月9日下午2:00發表「於ATE系統測試IoT模組之挑戰」(The Challenges of Testing IoT Modules on ATE Systems)技術論文)。

關鍵字: SEMICON  半導體測試設備  模組  通道卡  電子束光刻  計量掃描式  電子顯微鏡  基板  愛德萬  Advantest 
相關新聞
愛德萬測試將於SEMICON Taiwan展示最新科技並贊助產業活動
愛德萬測試獲頒Bosch全球供應商獎肯定
愛德萬將展示5G技術的最新IC測試解決方案
愛德萬測試簽署聯合國全球契約
愛德萬測試V93000系統導入SmartShell軟體
comments powered by Disqus
相關討論
  相關新品
OMAP 4處理器
原廠/品牌:TI
供應商:TI
產品類別:CPU/MPU
CT49 Memory SiP NAND + DDR3
原廠/品牌:鉅景
供應商:鉅景
產品類別:Memory
CT84 Memory SiP DDR3 Stack
原廠/品牌:鉅景
供應商:鉅景
產品類別:Memory
  相關產品
» Hyperstone推出低功耗SSD控制器 X1支持可靠的3D閃存
» 是德科技全新 PathWave方案加速產品開發工作流程案
» 愛德萬執行長吉田芳明獲列VLSIresearch 201名人堂
» Infortrend EonServ 7000系列機種:Milestone 認表現最佳的伺服器
» 技嘉推出新AORUS RGB系列機種
  相關文章
» 毫米波系統複雜度激增 OTA測試挑戰加劇
» 透過一致生產測試確保汽車雷達性能
» 迅速確認問題根本 示波器充分發揮數位血統
» 未來汽車緊急傳呼系統
» NB-IoT設計的不簡單任務

AD


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2019 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3
地址:台北市中山北路三段29號11樓 / 電話 (02)2585-5526 / E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw