帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 新聞 /
愛德萬測試:5G NR先進應用大幅推升記憶體市場需求成長
 

【CTIMES/SmartAuto 王岫晨 報導】   2020年10月22日 星期四

瀏覽人次:【3864】

在今天,5G NR與先進節點的發展,正成為長期驅動半導體產業前進的最重要力量。而5G NR的先進應用,更大幅推升了記憶體的市場需求量快速成長。隨著5G技術時代來臨,全球DRAM位元消耗預估將在2023年近乎翻倍,而此波需求成長背後的主要推手,正是持續成長的資料處理和行動通訊市場,不僅資料中心要求更多記憶體,智慧型手機解析度升級、新增摺疊功能和多鏡頭設計等也是原因。隨著記憶體IC平均售價持續縮水,半導體製造廠不可免的需要另闢蹊徑,縮減測試成本、擴大產量。

愛德萬測試最新H5620/H5620ES記憶體測試機
愛德萬測試最新H5620/H5620ES記憶體測試機

愛德萬測試 (Advantest Corporation)針對記憶體的測試需求,發表最新多功能、高產能H5620記憶體測試機,能針對DRAM和LPDDR (低功耗雙存取同步動態隨機存取記憶體) 裝置進行預燒及記憶體單元測試。H5620在生產環境中,能以100MHz頻率和高達200Mbps的資料傳輸率,平行測試超過1.8萬個元件。此外,H5620能因應工廠自動化需求,還有具備個別熱控制穩定度的雙溫箱結構,支援從-10°C到150°C大溫度範圍測試。不僅如此,新系統結合原有記憶體單元測試與記憶體生產設備的預燒測試流程,不僅有助客戶降低資本支出,也能節省工廠空間。

H5620使用具備多元工具組合的FutureSuite作業系統。有了這套軟體,測試機很容易能與愛德萬測試原本的記憶體測試系統相容。另外,愛德萬測試全球支援網也能立即提供客戶在程式編碼、除錯、關聯性分析和維修等方面的協助。

在此同時,愛德萬測試也推出最新的多功能H5620ES工程測試系統,針對現今實驗室環境DDR4、次世代DDR5和低功率LPDDR裝置進行高速預燒及測試,為H5600記憶體測試機家族再添生力軍。由於精簡配件數量、縮短預燒及測試之間所需的時間,最新H5620ES大幅降低5G應用先進記憶體裝置的測量成本。新款測試機跟H5620 一樣具備生產力,能針對DDR4和DDR5進行平行測試,並容納頻率100MHz、資料傳輸率200Mbps的記憶體IC。這套工程系統已針對產品開發工作進行使用優化,其精巧的設計能節省空間讓實驗室環境更機動,再加上頂部開放的機體設計很容易執行取放作業,不用先移開裝置界面板 (DIB)。

H5620ES跟H5620生產單元都採用FutureSuite作業系統,因此測試波形相同。它也支援預先測試 (pre-testing routines),譬如在轉移到H5620測試機以前,先在H5620ES系統進行檢查 ,藉以縮短生產週期時間。

關鍵字: 5G NR  愛德萬測試 
相關新聞
邁入70週年愛德萬測試Facing the future together!
愛德萬測試與Amarisoft針對5G/IoT元件測試進行合作
愛德萬測試瞄準NAND Flash/NVM市場 推出記憶體測試產品生力軍
愛德萬測試即時資料基礎設施平台 加速推動次世代半導體測試發展
愛德萬測試推行儲備幹部訓練暨管理職任命新制度
comments powered by Disqus
相關討論
  相關文章
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協
» 迎接數位化和可持續發展的挑戰
» 關鍵元件與裝置品質驗證的評估必要
» 為行車安全把關:智慧座艙自動化測試平台
» 5G測試技術:實現高精度和最佳化效能


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.3.239.59.193
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw