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加速車用晶片設計時程 新思科技工具獲ISO 26262認證
 

【CTIMES/SmartAuto 姚嘉洋 報導】   2016年08月02日 星期二

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廣泛來看,諸多國際一線的半導體業者投入車用電子領域已有不短的時間,然而在市場開始推廣功能性安全標準:ISO 26262後,不光是汽車與一線模組廠需要滿足此一規範,近年來,我們可以看到不少一線車用半導體大廠,除了AEC-Q100視為解決方案的基本配備外,ISO 26262這個字眼,也開始出現在車用半導體的世界中。

新思科技RTL合成、功率與測試自動化部門Gal Hasson
新思科技RTL合成、功率與測試自動化部門Gal Hasson

然而,晶片要滿足AEC-Q100或是ISO 26262要求,追本溯源,還是要從EDA供應商出發,由EDA業者所提供的解決方案,來進一步因應車用半導體業者的設計需求。新思科技RTL合成、功率與測試自動化部門Gal Hasson表示,新思先前所推出的ATPG(自動化測試型樣生成)工具TetraMAX?已經獲得的SGS-TUV所頒發的ISO 26262中最高等級的ASIL D認證。

Gal Hasson進一步談到,TetraMAX?的主要特色在於可以減少25%的測試型樣(Test Patterns)的輸出,但在測試型樣生成的速度也能大幅提升10倍,簡單來說,就是要為客戶節省測試成本。對於諸多晶片大廠,如高通、博通或是聯發科等,測試時間意味著測試成本的存在,所以如何進一步減少或是降低,成了這些業者的重要課題之一。新思能夠提供的,不光只是測試性分析,像是測試時間的壓縮、自我測試建置與良率分析等,都是新思所能提供的方案之一,

不過,Gal Hasson也強調,減少25%的測試型樣的確可以為客戶省出不少時間,但相對的,在沒有減少這25%的的情況下,相對的也能讓客戶所開發的晶片品質有所提升,所以相對的,在時間與品質之間的拿捏,就是客戶本身需要思考的課題。另一方面他也透露,目前已有車用晶片業者已將製程節點瞄準在14與16nm FinFET製程上,儘管無法透露客戶名稱,但新思已經著手協助他們處理這方面的設計與技術問題。

關鍵字: ISO26262  AEC-Q100  TetraMAX?  Test Patterns  新思科技 
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