帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 新聞 /
安立知VectorStar VNA推出UFX去嵌入功能
 

【CTIMES/SmartAuto 陳復霞整理 報導】   2017年06月13日 星期二

瀏覽人次:【8450】

安立知(Anritsu)為其VectorStar向量網路分析儀 (VNA) 推出通用夾具提取 (Universal Fixture Extraction,UFX) 選項,提供訊號完整性及on-wafer工程師更廣泛的on-wafer及夾具校準選擇,即使是在不具備全套校準標準時亦能使用。專為滿足4G及新興5G系統、以及回程網路及資料中心之高頻、高數據速率需求相關的設計挑戰,UFX具備獨特的分析工具,使工程師可以更準確、更有效地進行評估設計。

安立知提升VectorStar VNA性能,新的去嵌入功能可實現更精準的高頻 DUT 效能驗證,以滿足5G及資料中心雲端系統的高速資料傳輸率需求。
安立知提升VectorStar VNA性能,新的去嵌入功能可實現更精準的高頻 DUT 效能驗證,以滿足5G及資料中心雲端系統的高速資料傳輸率需求。

配置UFX的VectorStar VNA可為訊號完整性及on-wafer工程師提供多重優勢。該VNA解決方案經由強化測試夾具去嵌入來強化模型精度,進而提升首次產能,因此可加速上市時程。同時,亦提供工程師開發具備競爭優勢的高速資料吞吐量產品之能力。

完全校正的測試夾具校準技術要求夾具傳輸路徑兩端需具備一套完整的校準標準。在無法取得完整校準標準之環境中,傳統的方法是假設夾具的兩個路徑是完全對稱並且匹配,但由於這是非典型的方法,因此使用先前的技術將導致大量的去嵌入錯誤。UFX選項提供了先進的去嵌入工具,使工程師能隨著標準可用性的提高逐步增加校準標準和特徵數據,以提高夾具提取準確度。

為協助分析在測試夾具中的隔離缺陷,UFX亦內含定序剝離 (Sequential Peeling) 功能。訊號完整性工程師可根據相位函數匹配,在夾具的某個部分 (例如常見的傳輸部分) 產生.sNp檔。該功能提供了更詳細的夾具資訊,進而可以更輕鬆地改良測試夾具設計。

UFX 進一步擴展VectorStar的功能,以進行on-wafer元件特性描述,以及高速資料傳輸的測量。安立知的VNA產品線–VectorStar 採用獲得專利的 NLTL技術,能提供單一儀器70 kHz到145 GHz的最廣覆蓋率。該系列VNA 提供研發工程師所需的效能水準,以準確且可靠地建模高頻元件,並驗證最先進的設計,同時可在確保精度的情況下達到最高處理能力。

關鍵字: 向量網路分析儀  VNA  通用夾具提取  UFX  安立知(Anritsu安立知(Anritsu電信與資料儀器  測試系統與研發工具 
相關新聞
安立知以全方位無線通訊方案引領探索6G時代
韓國無線電促進協會攜手安立知 進行B5G/6G技術驗證
探索未來行動通訊趨勢 安立知6G量測技術論壇即將登場
安立知升級RF測試解決方案 支援5G FR1裝置的6 GHz頻段測試
SmartViser和安立知策略聯盟 為智慧手機和平板實現能源標章法規測試最佳化
comments powered by Disqus
相關討論
  相關文章
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協
» 迎接數位化和可持續發展的挑戰
» 關鍵元件與裝置品質驗證的評估必要


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.3.230.76.153
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw