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愛德萬測試將於SEMICON Korea展示最新測試解決方案
 

【CTIMES/SmartAuto 報導】   2018年01月25日 星期四

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愛德萬測試(Advantest Corporation)將在1月31日至2月2日於首爾COEX會展中心盛大登場的SEMICON Korea展示創新測試解決方案。愛德萬測試也是今年度SEMICON Korea和期間產業領袖餐會 (Industry Leadership Dinner) 的白金級贊助商。餐會將於1月31日晚間舉行。

愛德萬測試將在位於C展館的第510號攤位展示先進IC測試解決方案,包括專為次世代RF IC設計的V93000 Wave Scale平台、針對高速記憶體IC測試的V93000 HSM16G系統,以及為顯示器驅動IC (DDI) 打造的T6391測試機台。

愛德萬測試在今年的展覽攤位上將展示T2000平台的各種配置,譬如小型測試機台T2000 AiR,是為了因應物聯網(IoT)裝置量少但高度整合(Low Volume and High Mix)的系統級測試需求;為PMIC和24位元音訊解編碼器測試需求所設計的T2000 IPS;用於高速CMOS影像感測器測試的T2000 ISS;以及T2000 RECT680 0.35mm pitch IC高階測試介面。

在創新測試解決方案方面,愛德萬測試將展示由EVA100測量系統與HA7200組成的溫度與壓力測試單位,用於類比、數位和混合訊號元件量產級測試;專為測試高效能通用快閃儲存裝置和固態硬碟(SSD)而設計,成本效益表現優異的T5851系統;以及瞄準SSD測試需求,富彈性的MPT3000系列測試機台。此外,愛德萬測試大受好評的T5503系列也將於會上展出,該系列針對行動應用和伺服器所使用之次世代記憶體IC提供最佳解決方案。

除此之外,愛德萬測試亦將展示探針卡、高速記憶體裝置介面以及電子束度量與微影解決方案,包括能滿足1X奈米節點技術所需解析度的F7000電子束微影工具,和E3310、E3640、E5610掃描式電子顯微鏡 (SEM) 度量系統。

透過現場示範、數位圖像說明和詳細的產品展示,與會貴賓將能深入了解愛德萬測試專為韓國市場打造的最新IC測試技術,以及通過嚴謹測試的解決方案。

來自愛德萬測試的Ok Su Kim將於1月31日 (三) 下午1:40,在COEX會展中心318室舉行的測試論壇,發表「第五代RF測試解決方案」(5-Gen, RF Testing Solutions) 技術論文。

關鍵字: IC測試  愛德萬 
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