帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 新聞 /
愛德萬測試將於SEMICON Korea展示最新測試解決方案
 

【CTIMES/SmartAuto 報導】   2018年01月25日 星期四

瀏覽人次:【3842】

愛德萬測試(Advantest Corporation)將在1月31日至2月2日於首爾COEX會展中心盛大登場的SEMICON Korea展示創新測試解決方案。愛德萬測試也是今年度SEMICON Korea和期間產業領袖餐會 (Industry Leadership Dinner) 的白金級贊助商。餐會將於1月31日晚間舉行。

愛德萬測試將在位於C展館的第510號攤位展示先進IC測試解決方案,包括專為次世代RF IC設計的V93000 Wave Scale平台、針對高速記憶體IC測試的V93000 HSM16G系統,以及為顯示器驅動IC (DDI) 打造的T6391測試機台。

愛德萬測試在今年的展覽攤位上將展示T2000平台的各種配置,譬如小型測試機台T2000 AiR,是為了因應物聯網(IoT)裝置量少但高度整合(Low Volume and High Mix)的系統級測試需求;為PMIC和24位元音訊解編碼器測試需求所設計的T2000 IPS;用於高速CMOS影像感測器測試的T2000 ISS;以及T2000 RECT680 0.35mm pitch IC高階測試介面。

在創新測試解決方案方面,愛德萬測試將展示由EVA100測量系統與HA7200組成的溫度與壓力測試單位,用於類比、數位和混合訊號元件量產級測試;專為測試高效能通用快閃儲存裝置和固態硬碟(SSD)而設計,成本效益表現優異的T5851系統;以及瞄準SSD測試需求,富彈性的MPT3000系列測試機台。此外,愛德萬測試大受好評的T5503系列也將於會上展出,該系列針對行動應用和伺服器所使用之次世代記憶體IC提供最佳解決方案。

除此之外,愛德萬測試亦將展示探針卡、高速記憶體裝置介面以及電子束度量與微影解決方案,包括能滿足1X奈米節點技術所需解析度的F7000電子束微影工具,和E3310、E3640、E5610掃描式電子顯微鏡 (SEM) 度量系統。

透過現場示範、數位圖像說明和詳細的產品展示,與會貴賓將能深入了解愛德萬測試專為韓國市場打造的最新IC測試技術,以及通過嚴謹測試的解決方案。

來自愛德萬測試的Ok Su Kim將於1月31日 (三) 下午1:40,在COEX會展中心318室舉行的測試論壇,發表「第五代RF測試解決方案」(5-Gen, RF Testing Solutions) 技術論文。

關鍵字: IC測試  愛德萬 
相關新聞
愛德萬測試收購CREA 拓展高功率SiC與GaN晶片測試
筑波與Teradyne攜手 推廣ETS半導體設備
愛德萬新款數位通道卡提升SoC測試高效 ESG承諾逐步達成效
愛德萬測試與PDF Solutions聯手 針對IC測試優化打造ACS產品
愛德萬即將參與線上虛擬SEMICON SEA大會展示IC測試方案
comments powered by Disqus
相關討論
  相關文章
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協
» 迎接數位化和可持續發展的挑戰
» 關鍵元件與裝置品質驗證的評估必要


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.34.205.2.207
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw