帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 新聞 /
PulseCore使用Tektronix USB串列測試套件
 

【CTIMES/SmartAuto 李旻潔 報導】   2008年10月28日 星期二

瀏覽人次:【1737】

測試、量測和監控儀器廠商Tektronix宣布,PulseCore半導體公司採用Tektronix測試儀器的完整套件,對其最近推出的USB 2.0積體電路進行測試與驗證。新的PulseCore IC採用展頻式時脈(SSC),以減少電磁干擾,同時達成USB 2.0的業界相容性。

Tektronix示波器DPO7254
Tektronix示波器DPO7254

為量測USB 2.0相容性與訊號完整性,PulseCore結合了DPO7254示波器和TDSUSB2軟體選項、TDSUSBF測試夾具,以及P7360A 6GHz差動主動式探棒。為量測纜線上與輻射性USB 2.0 EMI功率降低,PulseCore也使用了 RSA6114A即時頻譜分析儀與PX Live RF顯示器。DPX波形影像處理技術提供了頻譜的live RF檢視,可顯示先前無法看見的RF訊號和異常訊號。

使用此測試套件,PulseCore能夠驗證其SSC技術的效能,以提供平均4dB的EMI衰減,並達成USB 2.0相容性。RTSA提供了SSC 開/關轉換的即時分析,同時使用示波器進行設計的驗證、除錯和測試,以確保關鍵的SSC參數隨時都符合規格。

儀器和軟體的速度、穩定一致性和彈性,提供了另一項效益,有助於PulseCore找到新IC的限制,進而提供更多設計選項給PulseCore的客戶。有了透過PuseCore詳盡測試所得到的資訊,採用新IC的系統設計人員便可洞察限制所在,以進行最佳化效能或將EMI衰減降到最低。

關鍵字: 輻射  監控儀器  IC  SSC  USB  波形影像  Tektronix(太克PulseCore  儀器設備 
相關新聞
太克推出適用於測試儀器的開放原始碼Python原始驅動程式套件
Tektronix發布雙脈衝測試解決方案 加速SiC和GaN驗證時間
[COMPUTEX] USB-IF:要讓USB更易用 同時也更容易識別
嘉雨思採用Tektronix高效能示波器 進行高速傳輸IC設計
Tektronix任命Christopher Bohn出任總裁
comments powered by Disqus
相關討論
  相關文章
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協
» 迎接數位化和可持續發展的挑戰
» 關鍵元件與裝置品質驗證的評估必要


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.34.204.177.148
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw