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致茂將舉行「DDR SDRAM測試相關技術研討會」
 

【CTIMES/SmartAuto 黃明珠 報導】   2001年10月24日 星期三

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致茂電子開發記憶體模組測試設備已有六年歷史, 於二年半前成立半導體測試設備事業處, 結合記憶體及邏輯IC測試技術, 自行開發及代理銷售半導體測試設備, 提供適合台灣廠商研發、生產、品質驗證及維修之 Total solution。致茂電子並將於10月30日舉辦『DDR SDRAM測試相關技術研討會』, 邀集國內知名記憶體模組廠商參加, 並邀請美國 Triadspectrum 總經理 Bill Chan公開針對未來市場趨勢的看法及新技術研發之成果, 計劃將新技術提供產業界人士使用。

關鍵字: 致茂電子  半導體製造與測試 
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