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是德科技推出整合模拟、设计与测试流程 的软体平台
 

【CTIMES/SmartAuto 报导】   2018年01月31日 星期三

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是德科技(Keysight Technologies Inc.)日前推出首款整合了设计、测试、量测与分析的PathWave软体平台。Keysight PathWave平台让客户能够加速实现技术创新,并加快从概念到制造及部署的产品开发过程。

新的PathWave平台能够加速从概念、制造及部署的产品开发过程
新的PathWave平台能够加速从概念、制造及部署的产品开发过程

藉助是德科技领先业界且经过验证的专业技术,PathWave软体平台可确保产品开发的一致性、准确性和量测整合性。客户可在有需要时,透过该软体平台灵活地立即存取所需的设计和测试工具。Keysight PathWave支援设计、测试以及先进资料管理的交互操作,免除了为流程中各个阶段重新建立单独量测和测试的需求,有助於大幅加快产品开发周期。

Frost & Sullivan测试与量测产业总监Jessy Cavazos表示:「产品开发生命周期大多数都是不连贯的,在每个阶段都会出现不同的设计和测试挑战,因而降低了产品的创新和上市速度。身为设计和测试产业的领导者,是德科技凭藉其独特的专业知识,为整个产品生命周期的统一设计和测试流程,提供一致的使用体验以及通用的资料格式。如此不但可加速创新的脚步,同时还能让客户更快推出高品质产品。」

PathWave是开放式、可升级且可预测的软体平台,它整合了开发工作流程中每一个阶段所需的硬体和软体。藉由结合设计软体、仪器控制,以及开放式开发环境中所需的特殊应用测试软体等特性,PathWave平台让使用者能快速建构高效能解决方案。

PathWave连结并整合了所有设计和测试资源:提供开放式应用程式介面(API),让使用者能快速轻松地自订功能,轻易地整合业界顶尖技术,包括其他厂商的软体和硬体,快速连结可相容的硬体,以加快完成测试并提高生产力。

PathWave提供灵活的计算能力,并可随时进行升级,以满足不同的工作需求:可在本机、云端,或同时在两边操作,以加快设计和测试运算,也可在本机或云端处理整个工作流程的测试资料,并且在设计和测试流程中,节省各个开发阶段的转换时间。

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PathWave提供强大的分析工具,可加快除错速度:快速提供全面的资料分析,以确定趋势并解决问题 ,有效监控每个测试资源的利用率和健康状况,以提高生产力和工作排程效率,并可精准撷取并分析大数据,以获得更快、更有效率的工作流程。

是德科技资深??总裁及科技长Jay Alexander表示:「我们都认可先进科技所提供的诸多社会效益,从云端运算、大数据、机器学习、人工智慧,一直到扩增实境及各种类型的行动平台。然而,要享受这些新科技提供的完整价值,您需对整个设计和测试流程具备深厚的专业知识,并且有效执行量测专业技术。是德科技致力於透过高效能解决方案持续提供新兴技术,以协助客户排除创新的阻碍,并且建立有效率的工作流程。」

PathWave为整个设计、测试和验证流程提供了一套整合式软体产品。它们可连结、互通,并可快速重新配置,以实现业界最高效率的工作流程

是德科技将於DesignCon展会的725号展示摊位中展出PathWave,展会时间:1月31日 - 2月1日。如需更详细的产品资讯,请浏览:www.keysight.com/find/PathWave。欲查看更多产品背景资讯和相关图片,请上网至www.keysight.com/find/PathWave-backgrounderwww.keysight.com/find/PathWave-images

關鍵字: 软体平台  Teknoloji 
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