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Tektronix推出适用於即时示波器的PAM4光学分析解决方案
 

【CTIMES 陳復霞整理报导】   2017年09月19日 星期二

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Tektronix(太克科技)推出全新的DPO7OE1,这是一种可与即时示波器搭配使用的校准光学探棒和分析软体,是相容於 28-GBaud PAM4 应用的光学叁考接收器 (ORR),并可支援IEEE/OIF-CEI标准特定量测。全新的解决方案补足了Tektronix的取样示波器光学PAM4分析工具功能,为设计团队提供了有效的测试解决方案,适用於光发射器工作流程的所有阶段。

工程师可利用以即时示波器为基础的解决方案进行 PAM4 光学装置的重要除错离线分析,可有效简化验证挑战。
工程师可利用以即时示波器为基础的解决方案进行 PAM4 光学装置的重要除错离线分析,可有效简化验证挑战。

这款新产品以即时示波器(如PO70000SX)为基础,使研发和系统工程师可增加强大的除错功能,更轻松地对其光学装置进行疑难排解:PAM4和NRZ的软体时脉还原、触发、错误侦测,以及撷取时间相关或连续的讯号记录。

Maxim Integrated高级研发总监Jan Filip表示:「像PAM4这样的先进光学调变格式同时需具备取样和即时示波器来进行系统测试。以即时示波器为基础的全新解决方案使我们能为开发团队提供关键的除错回??,并可使用离线Matlab演算法模拟先进的光学接收器系统。Tektronix为我们的光学和PAM4测试要求提供了效能最隹的即时示波器侦测解决方案,是我们先进量测平台的策略合作夥伴。」

Maxim Integrated是一间提供适用於资料中心应用的高速、低功耗光学装置的制造商,对於以即时示波器为基础的光学PAM4解决方案的价值有着深刻的体验。

应用与分析套件

DPO7OE1 为 28-GBaud PAM4 除错应用提供 33 GHz 光学频宽,同时亦可用於旧型 NRZ 应用。分析套件支援包括 ER、AOP、OMA、眼图高度和眼图宽度等标准光学量测,以及包括 TDECQ 在内的 PAM4 IEEE 和 OIF-CEI 标准特定量测。

DPO7OE1 校准光学探棒和 PAM4 分析套件现在已可订购。

關鍵字: 光学探棒  分析軟體  实时示波器  Tektronix  太克科技  測試系統與研發工具  光通訊儀器 
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