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开放的平台式方案结合了模块化仪器与系统设计软件,适用于 RF 和混合式讯号生产测试

【CTIMES/SmartAuto 报导】   2014年08月04日 星期一

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美商国家仪器提供了最佳的解决方案,协助工程师和科学家克服世界上最艰巨的工程挑战,并于今天推出 NI 半导体测试系统 (Semiconductor Test System,简称 STS) 系列。基于 PXI 架构的自动化测试系统,针对半导体生产测试环境的 PXI 模块,有助于降低 RF 和混合式讯号装置的测试成本。相较于传统的半导体自动化测试设备 (ATE),STS 先期用户都证实了 STS 有助于降低生产成本、提高产能,而且还可以透过相同的硬件和软件工具,同时执行特性测试与生产作业。这样一来即可更快建立数据关联并缩短上市时间。

「由于集成电路越变越复杂,所以可针对设计检验甚至是末期生产测试等应用提供最佳测试范围、同时兼具成本效益的 ATE 也变得越来越重要」,Infineon Technologies 车体传动产品的资深设计与应用工程师 Dr. Hans-Peter Kreuter 解释:「就混合式讯号测试而言,PXI 架构的 STS 效能远胜过传统的 ATE,能够以相当低的成本提供最理想的测试范围。」

不同于传统 ATE 的封闭式架构,STS 具有开放式的模块化架构,可协助工程师运用先进的 PXI 仪器。这对 RF 和混合式讯号测试而言尤其重要,因为传统 ATE 的测试范围通常无法满足最新半导体技术的需求。STS 搭载 TestStand 测试管理软件和 LabVIEW 系统设计软件,针对半导体生产环境提供了丰富的功能组合,包含可客制化的操作接口、分类机/针测机整合、装置为主的程序设计和针脚-信道配置、标准测试数据格式报表制作、整合式多地点支持等等。有了这些功能,工程师即可迅速开发测试程序、加以除错并完成布署,缩短整体的上市时间。此外 STS 还配备了全封闭式的「零占用空间」测试头、标准衔接与链接机构,可立即整合至半导体生产测试单元。

「由于测试系统不停汰换,或者无法满足新的测试需求,因此传统的 ATE 系统往往伴随着高额的测试工具替换成本,不过 STS 的开放式 PXI 架构却可以让我们保有原本的投资,并且以此为基础持续扩充,不必淘汰任何设备」,Integrated Device Technology (IDT) 测试总监 Glen Peer 指出:「此外还有出色的弹性,有助于重新设定测试平台并加以扩充,以便因应不断成长的效能需求。」

STS 系列提供三种不同的机型:T1、T2、T4,分别容纳了 1、2、4 个 PXI 机箱。这些尺寸选项,再加上所有 STS 机型通用的软件、仪控和互连机构,可协助工程师充分满足不同的针脚和地点数量需求。此外,便于扩充的 STS 还可以布署至特性测试甚至是生产环境,藉此优化成本效益、大幅简化建立数据关联的程序,进而缩短上市时间。

为了协助客户顺利达成目标,NI 提供丰富的教育训练、产品与服务,同时还有全球 NI 工程专家和 NI 联盟伙伴的强力支持。

關鍵字: RF  NI 
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