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是德科技MOI支援使用ENA網路分析儀
執行PCIe 3.0阻抗、回返損耗測試

【CTIMES/SmartAuto 編輯部報導】   2015年08月06日 星期四

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是德科技(Keysight)日前發表新的實作方法(MOI)指南,讓工程師能使用ENA系列網路分析儀的增強時域分析選項(E5071C-TDR),執行PCIe 3.0發射器/接收器(Tx/Rx)阻抗和回返損耗測試(Hot TDR/RL)。該指南詳細介紹時域和頻域量測程序,並可與是德科技狀態檔等測試套件搭配使用,以大幅簡化相符性測試和配置。

逐步操作是德科技新的實作方法指南,讓纜線相符性測試化繁為簡。
逐步操作是德科技新的實作方法指南,讓纜線相符性測試化繁為簡。

隨著數位應用的傳輸速率不斷提高,阻抗匹配變得極為重要,因為它對眼圖張開/閉合程度有著顯著的影響。藉由評估PCIe 3.0主動元件(TX/RX)在開機和運作狀態下的阻抗,工程師可獲得多重反射的量化結果,讓此測試挑戰迎刃而解。熱TDR /熱回返損耗量測讓工程師能夠更全面地洞察信號完整性問題,並確保以多Gb速率運作的高速元件能夠維持應有的效能。

台灣是德科技總經理張志銘表示:「是德科技MOI可用於許多不同的高速數位應用,例如USB、DisplayPort和Ethernet。最近我們又新增了PCIe 3.0 MOI,再一次展現我們竭盡全力提供客戶所需功能的決心,讓客戶能輕鬆地克服高速量測挑戰。」

適用於E5071C-TDR的PCIe 3.0 MOI現已開始對外供貨。(編輯部陳復霞整理)

關鍵字: 實作方法  MOI  ENA  網路分析儀  增強時域  是德科技  Keysight  安捷倫(Agilent測試系統與研發工具  電信與資料儀器 
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