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惠瑞捷針對其生產驗證設備新增功能提昇擴充性
 

【CTIMES/SmartAuto 林佳穎報導】   2010年07月08日 星期四

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惠瑞捷(Verigy)在日前宣佈,其經生產驗證的V93000平台中,新增了 Direct-Probe解決方案,進一步提升該平台的擴充性。該平台針對數位、混合信號,和無線通訊積體電路的高性能針測產品,進行量產、多點針測。

新的 Direct-Probe 創新型射頻解決方案,可降低射頻設備、高接腳數數位設備以及複雜的混合信號設備的測試成本,將可協助全球半導體市場,能快速向高性能針測和晶圓級晶片尺度封裝轉型。

惠瑞捷的 V93000 平台,在增加 Direct-Probe 射頻解決方案後,消除了晶圓和測試機之間的傳統機構介面,從而減少了訊號路徑連接點的長度和數量,提高了射頻設備測試的信號完整性。此外,擴充新功能的 V93000 ,在設計時可使用適合晶圓探針和終程測試的單測試載板,從而縮短 IC 從開發到生產的時間,使探針和終程測試間的相關工作量降至最低,並實現強大的多點測試能力。

關鍵字: 半導體製程  射頻  半導體設備  惠瑞捷 
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