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安捷倫發表新款自動化光學檢測平台
 

【CTIMES/SmartAuto 林佳穎報導】   2008年01月08日 星期二

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安捷倫科技(Agilent Technologies)將於11月13日在德國Productronica貿易博覽會上展出新款自動化光學檢測(AOI)平台。

gilent Medalist sj5000 AOI解決方案以後回流(post-reflow)檢測為目標,其採用容易使用且彈性的平台,可協助印刷電路板製造商因應表面黏著技術(SMT)瞬息萬變的需求。

新款sj5000以彈性為設計重點,並提供一系列創新的光學檢測技術和改良的機械功能,包括與Rockwell Automation的Anorad部門攜手開發的全新線性起重架;新的簡化型輸送機和夾緊裝置設計;以及更容易接觸到系統元件且能提供更佳運行時間(uptime)支援的新表面(skin)。這些功能可協助新手和資深的操作員在快節奏的SMT生產線上迅速達到最多的檢測結果。

Agilent sj5000是為了處理現今複雜且不斷縮小的印刷電路板組件而開發,它可以在不犧牲速度和解析度的情況下檢測最小的01005元件,此乃安捷倫AOI解決方案最大的特色。此平台可以輕易地整合到客戶目前採用Agilent Medalist SJ50 Series 3 AOI系統的生產線中。

台灣安捷倫董事長申義龍表示:「sj5000為我們將來開發創新的AOI技術提供一個新的“彈性基礎”。我們現在所設計的解決方案,將能協助製造商克服未來的挑戰,即使PCBA變得愈來愈複雜且生產線拍速率(beat rates)持續地提高。」另外,申董事長亦指出:「我們承諾繼續為客戶提供最高品質且最大價值的產品與服務。此新款AOI平台的問世,正足以說明我們為客戶創造創新價值的決心。」

關鍵字: 自動光學檢測  AOI  安捷倫(Agilent安捷倫(Agilent其他儀器設備 
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