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KLA-Tencor推出探針式表面輪廓測量系統
 

【CTIMES/SmartAuto 林佳穎報導】   2008年07月17日 星期四

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KLA-Tencor公司發布最新的探針式表面輪廓測量系統P-6,該系統針對光電太陽能電池製造等科學研究與生產環境,提供一組獨特的先進功能組合。P-6系統具備以先進半導體輪廓儀系統開發的測量技術優勢,但採用了較小、較經濟的桌面型機台設計,可接受最大至150釐米的樣本。

KLA-Tencor成長與新興市場集團副總裁Jeff Donnelly表示:「我們很開心能推出P-6探針系統,該系統將為科學與太陽能客戶提供應用上最佳的功能組合。對於太陽能市場,P-6能夠在開發階段提高太陽能電池效率、監控生產製程品質所需的解析度、掃描品質以及自動控制能力。」

P-6 探針式輪廓儀包含了KLA-Tencor自動化 P-16+ 探針式輪廓儀的眾多功能,包括低雜訊基底可改善對微小表面特徵的測量靈敏度、小於6埃的階高可重複性,確保了嚴苛的製程控制、150毫米 X-Y樣本載台可實現覆蓋整個基底的單一測量、2D應力測量與分析可將缺陷降至最低並提升良率及容易操作的分析軟體,能提供高階應用的靈活性。

P-6輪廓儀已通過重要太陽能產品製造商 BP Solar的合格認證。BP Solar技術副總裁 Eric Daniels表示:「經由對KLA-Tencor P-6系統的評估,我們證明其對於多種表面量測應用系統的一系列製程條件,具備高靈敏性,其中包括ARC薄膜、導線觸點及前表面紋理結構。對於支援我們的技術開發與生產改善,P6是一項極富價值的工具。」

關鍵字: 太陽能  輪廓儀  KLA-Tencor  Eric Daniels  Jeff Donnelly  測試系統與研發工具 
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