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安捷倫新版X系列量測應用軟體可根據3GPP第11版標準 執行LTE-Advanced射頻相符性測試
 

【CTIMES/SmartAuto 報導】   2014年03月17日 星期一

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安捷倫科技(Agilent Technologies Inc.)日前宣佈推出最新版的Agilent X系列量測應用軟體,進一步延伸了其LTE-Advanced量測領導地位。該軟體提供符合3GPP第11版標準(3GPP Release 11)的多元射頻相符性測試功能,方便工程師對LTE-Advanced FDD和TDD發射器與元件進行最全面的測試。該軟體亦適用於桌上型和模組化產品。

LTE-Advanced象徵著持續演進中之LTE標準的革命性突破。在整個開發週期中進行適當的量測,對於產品是否能在市場中熱銷,仍是至關重要的因素。安捷倫先前推出的LTE-Advanced信號分析儀和信號產生解決方案,是業界首見的LTE-Advanced產品,讓製造商能在研發階段就排除相符性問題。現在,安捷倫的嵌入式LTE-Advanced X系列量測應用軟體可在設計驗證和製造階段,克服相關測試挑戰。

新的Agilent LTE-Advanced量測應用軟體讓Agilent X系列和模組化信號分析儀能夠利用單鍵式量測功能快速進行測試。新版軟體還提供超快的量測速度、SCPI程控能力、通過/不通過測試,以及簡單的操作方式,是設計驗證和製造應用的理想選擇。

台灣安捷倫科技電子量測事業群總經理張志銘表示:「客戶需要倚賴業界最強大、最先進的新型解決方案來執行LTE-Advanced發射器和元件的驗證和製造。這套嵌入式量測應用軟體建構於我們備受肯定的創新無線相符性量測技術,可全面支援3GPP Release 11規格,確保客戶能夠在執行LTE-Advanced無線測試時,獲得更深入的洞察力和更高的自信度。」

射頻相符性測試馭繁為簡

Agilent LTE-Advanced量測應用軟體讓工程師能依據3GPP Release 11標準的規範,對LTE-Advanced發射器的連續和非連續配置,進行業界最完整的射頻相符性測試。所支援的特定量測項目包括發射器輸出功率特性和傳輸信號品質量測,並可量測基地台和用戶設備的干擾發射信號。

該量測應用軟體還可根據3GPP Release 11制定的新要求,對頻段內非連續載波聚合,執行累積相鄰通道洩漏比(CACLR)和累積頻譜放射遮罩(SEM)量測。另一家網路業者所部署之子區塊間隙(sub-block gap)內的頻譜,會使得頻段內非連續配置遭遇干擾,因而帶來獨特的干擾發射信號射頻量測挑戰。新的CACLR要求和SEM量測所需的特殊波罩,使得工程師必須量測sub-block gap兩側的載波所引發的問題。安捷倫新版的LTE-Advanced量測應用軟體,是目前市場中唯一可對非連續載波聚合,同時提供CACLR量測和SEM特殊波罩的解決方案。

Agilent X系列量測應用軟體

Agilent X系列量測應用軟體顯著增進了安捷倫信號分析儀的功能和性能,並且加快使用者獲得洞察力的速度。它們提供重要的量測功能,並涵蓋超過40種標準或調變類型,讓工程師能順利完成一般、蜂巢式通訊、無線連結和數位視訊應用的特定量測任務。安捷倫桌上型和模組化儀器均支援該應用軟體,唯一的差別在於客戶所選擇的硬體,會影響到可獲致的效能。使用者可依照不同應用的要求,選擇所需的效能等級,以確保從開發到製造階段,所有信號分析儀都能獲得完全一致的計算性能和演算法。

關鍵字: TDD  LTE  安捷倫(Agilent
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