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愛德萬即將參與線上虛擬SEMICON SEA大會展示IC測試方案

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半導體測試設備供應商愛德萬測試(Advantest Corporation)將於8月23至27日參與東南亞國際半導體展(SEMICON Southeast Asia,簡稱SEMICON SEA)虛擬展示大會,與會分享其最新測試技術,以及數位展示針對百萬兆級運算、5G和記憶體應用最新IC測試解決方案。大會將安排虛擬攤位,協助愛德萬測試專家與客戶透過線上聊天與私人視訊工具即時互動。

在本次「Converging Technologies. Advancing the Future」主題,愛德萬測試將展示旗下最新測試解決方案,致力加速推動人工智慧(AI)、百萬兆級運算、5G與高速記憶體等革命性應用的發展。

預計於愛德萬測試虛擬攤位亮相的測試解決方案,包括:

‧ 最新:V93000 EXA Scale系統單晶片(SoC)測試系統,能測試運算效能達百萬兆級(Exascale)的數位IC。

‧ 記憶體與預燒測試平台,包括MPT3000系列測試系統,結合熱控制能力與高通量測試,能針對包括PCIe Gen 4在內之固態硬碟(SSD)進行極端溫度測試。

‧ 智慧測試單元解決方案,針對包括資料追溯與預測性維修等工廠自動化作業。

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關鍵字:IC測試