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R&S推出LTE 混附波輻射干擾測試經濟型方案

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羅德史瓦茲(R&S)於日前宣佈,推出一種全新的測量方案,可在載波存在的情形下,輕鬆地對LTE產品進行輻射干擾測試。此方案乃利用R&S OSP,開放式切換控制平台,搭配OSP- B155硬體配備,來進行量測。其價格還低於傳統利用頻帶阻截濾波器方式的費用。

無線設備製造商必須測量其產品的混附波輻射干擾(RSE, radiated spurious emissions),以確保他們產品不會干擾其他無線通訊的裝置。傳統之輻射干擾測試方法乃以濾波器抑制高強度的無線通訊信號載波。但LTE標準有258種頻寬的組合,使用這種方法會付出相當高的人力和成本。現在,羅德史瓦茲公司推出一個非常簡單的解決方案- R&S OSP- B155,亦可協助客戶將預算控制在可接受範圍內。

國際標準組織,如NU 的ITU或EU的R&TTE,皆有制訂無線通訊設備輻射干擾的測試規範。無線通訊產品製造商在開發設計和產品最後驗收階段均需執行這些量測。對於傳統無線通信標準,要過濾出高強度的載波信號是很繁瑣的過程。如今 LTE 定義了43個頻段,並在每一頻段定義六組頻寬進行全功率傳輸。若欲過濾出所有頻段和頻寬的LTE 載波信號,需要一個獨立的機櫃去安置這258 種組合之各頻段濾波器,其將是一耗費頗鉅的投資成本。

在羅德史瓦茲的解決方案中,R&S OSP 之佔用空間僅為控制機櫃中的兩個高度單位。新的R&S OSP- B155 插件模組可將整個接收到的信號頻譜調整至最佳功率範圍內,以使用EMI 測試接收機的最大動態範圍來進行量測。此接收機不需要頻帶阻截濾波器就可對整個 LTE信號頻譜進行分析。

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關鍵字:LTE通訊量測