高速類比數位轉換器(ADC) INL/DNL參數的測量
作者\Kim
近來許多半導體製造商紛紛推出了擁有卓越性能的高速類比數位轉換器(Analog/Digital Converter;ADC)產品,因此您可能要問,「這些廠商是如何測量晶片的效能?又是使用哪些設備來作測量的呢?」以下我們就為您介紹在ADC轉換器中最重要的兩個精確度參數的量測方法,那就是積分非線性度(Integral NonLinearity;INL)以及微分非線性度(DifferentialNonLinearity;DNL)。