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討論新聞主題﹕Microchip推出53100A型相位雜訊分析儀 用於精準振盪器特性分析

新聞 提要
Microchip今天發佈新一代相位雜訊分析儀，產品型號為53100A。這款相位雜訊測試儀可協助研發人員和製造工程師更精確地測量頻率訊號，包括由原子鐘產生的訊號，以及由其他高頻參考模組和子系統產生的訊號。 新推出的53100A型相位雜訊分析儀專為工程師和研發人員設計。他們的工作高度仰賴對來自5G網路、資料中心、商用及軍用飛機、太空飛行器、通訊衛星和計量測試應用的頻率訊號進行精確測量。 這款全新的測試儀器能夠檢測高達200MHz的射頻訊號，可快速捕獲頻率訊號，並對相位雜訊、頻率抖動、艾倫偏差（ADEV）和時間偏差等進行快速而精確的特性分析。只需一台分析儀和幾分鐘時間，便可對特定頻率的所有屬性進行完整的特性分析

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