<
帳號：
密碼：

討論研討會主題﹕USB 3.0干擾/衰減測試及解決策略

研討會 提要
USB 3.0在2008年即已完成標準定義，在USB 2.0的廣大基礎下，市場對USB 3.0十倍速方案的成長非常看好，也吸引眾多廠商一窩蜂的投入搶市。然而，正因十倍速的高速傳輸特性，造成從晶片到系統、設備等各個層面都需要重新設計與測試的難題，大大拖累整個市場建置與接受的速度。 如今標準、晶片組、驅動程式等問題雖然已大致獲得解決，但在系統、設備的設計上，仍有一些難解的實務議題待克服。這些難題大多圍繞在訊號的干擾與傳輸衰減上，包括串音、電磁干擾（EMI）和射頻干擾（RFI）等三大干擾問題，以及高頻傳輸及大電流傳輸的訊號衰減問題。 很顯然地，USB 3.0要真正起飛，得好好先搞定系統設計上的種種問題

發表新主題
主題：
文章內容：
  確認碼:  
  一般討論區
一般討論區
新聞報導論壇
活動消息論壇
專欄評析
零組件科技論壇
產業新品中心
  應用論壇區
文章論述論壇
軟體應用論壇
產品應用論壇
Microchip數位電源討論區─贏取大獎
  技術應用區
電子技術類：
電腦科技類：
網際科技類：
軟體資源類：
 
刊登廣告 ｜ 新聞信箱 ｜ 讀者信箱 ｜ 著作權聲明 ｜ 隱私權聲明 ｜ 本站介紹
︱ Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3
地址:台北市中山北路三段29號11樓 / 電話 (02)2585-5526 / E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw