2010年07月08日 星期四	【科技日報林佳穎報導】

惠瑞捷（Verigy）在日前宣佈，其經生產驗證的V93000平台中，新增了 Direct-Probe解決方案，進一步提升該平台的擴充性。該平台針對數位、混合信號，和無線通訊積體電路的高性能針測產品，進行量產、多點針測。

新的 Direct-Probe 創新型射頻解決方案，可降低射頻設備、高接腳數數位設備以及複雜的混合信號設備的測試成本，將可協助全球半導體市場，能快速向高性能針測和晶圓級晶片尺度封裝轉型。

惠瑞捷的 V93000 平台，在增加 Direct-Probe 射頻解決方案後，消除了晶圓和測試機之間的傳統機構介面，從而減少了訊號路徑連接點的長度和數量，提高了射頻設備測試的信號完整性。此外，擴充新功能的 V93000 ，在設計時可使用適合晶圓探針和終程測試的單測試載板，從而縮短 IC 從開發到生產的時間，使探針和終程測試間的相關工作量降至最低，並實現強大的多點測試能力。