2018年03月14日 星期三	【科技日報報導】

Tektronix為DSA8300取樣示波器推出了兩款新型光學模組，這些產品具高靈敏度和低雜訊，不僅可為製造商提高生產能力，同時也能提高400G設計投入產量的信心。Tektronix並宣布透過針對高輸送量製造測試的四通道平行處理最佳化處理的軟體套件，增強對最新400G PAM4 TDECQ量測的支援服務。

隨著400G投入生產，Tektronix 推出適用於 DSA8300 取樣示波器的全新光學模組。

全新的模組和功能及全套 Tektronix 100G/400G 光學表性分析和驗證解決方案即將在 OFC 光學網路和通訊會議以及本週在加州聖地牙哥 (San Diego) 舉辦的展覽會上展示。Tektronix 亦在活動中為其 DPO70000SX 即時示波器推出了全新的 56 GBd 單模光學探棒。

Tektronix高頻通訊總經理Sarah Boen表示：「隨著400G設計進入生產階段，我們的客戶正在尋找改善製造良率和測試成本的方法，這一切都始於對測試結果的信心，以及快速、準確地區隔良莠組件的能力。憑藉業界最低的雜訊和最高的靈敏度，我們的解決方案提供了可改善光學組件和互連產品的產量和輸送量。」

當安裝在 DSA8300 取樣示波器中時，適用於56 GBd PAM4和NRZ的全新80C20 和80C21光學模組將可提供具有9 μW光學雜訊的業界最佳雜訊效能。雙通道80C21使光學製造測試工程師能將輸送量和容量加倍。若裝置發生故障，Tektronix提供了一套全面的增強型PAM4分析工具來分解訊號內容以獲取雜訊和抖動，能有效協助工程師瞭解潛在的問題。

為了滿足資料中心對更大頻寬的需求，光學產業正迅速轉向400G和PAM4。然而，由於較低的訊號雜訊比、降低的訊號振幅以及測試次數增加10倍以上等因素，生產工程師面臨了如何針對每個裝置保持低測試成本的挑戰。以Tektronix DSA8300為基礎的取樣解決方案憑藉業界最高的頻寬、最高的靈敏度和縮短的測試時間，將有助於降低測試成本。