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還在傷腦筋? 物聯網測試一次通關 (2017.07.06) 物聯網實際應用產品陸續問世,然而相關元件測試卻遭遇不同挑戰,好的測試平台,將可讓元件端開發事半功倍。 |
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R&S將與Intel共同舉辦物聯網測試技術論壇 (2016.05.30) 羅德史瓦茲(Rohde & Schwarz, R&S)與技術夥伴Intel 將於6月13日在德國慕尼黑舉辦物聯網測試技術論壇(IoT Test Day),會中邀請多位物聯網領域專家為您介紹最新的物聯網技術趨勢,以及隨之而來大量的相關測試需求 |
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還在傷腦筋? 物聯網測試一次通關 (2015.10.08) 物聯網實際應用產品陸續問世,
然而相關元件測試卻遭遇不同挑戰,
好的測試平台,將可讓元件端開發事半功倍。 |
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