Anritsu 安立知為其光譜分析儀 MS9740B 推出新的測量功能 (MS9740B-020)，使用脈衝模式評估雷射二極體 (Laser Diode，LD) 晶片。此全新解決方案縮短了高功率 LD 晶片的測試時間，有助於提升其生產效率。
開發背景
LD 晶片製造商和光學設備供應商必須在製造過程中評估 LD 晶片的光譜特性。
高功率 LD 晶片的市場需求來自於更高的通訊位元速率以及更廣的光達 (LiDAR) 偵測範圍。此外，因應共同封裝光學應用的外部雷射小型可插拔 (ELSFP) 模組等新用例預計也會加速上述需求。高功率 LD 晶片的連續波 (CW) 輸出會因晶片溫度升高而出現功率漂移和波長偏移的問題，使用脈衝模式驅動晶片可抑制溫度升高，並有助於避免這種情況發生。然而，目前在生產過程中進行LD 晶片的脈衝測試需要較長的時間，因為它還需要外部觸發訊號才能與 LD 晶片的脈衝頻率同步。
產品概要和特點
減少 LD 晶片脈衝測試的生產時間 (Tact Time)：新型MS9740B-020 解決方案無需外部觸發訊號，加快了光譜評估的速度。
確保高功率 LD 晶片的測量再現性：該解決方案可確保旁模抑制比 (SMSR) 的測量再現性為 ±1.4dB，較低的 SMSR 變化可提高 LD 晶片的良率，協助提高生產效率。（安裝 MS9740B-020 時為 ±1.8dB）
