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为DDR4记忆体模组连接器选择合适材料
 

【作者: Molex】2014年12月22日 星期一

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在电子行业,绿色设计(Green Design)是现今业界主要的关注重点。除了降低能耗,业界对在连接器外壳中使用某些卤素作为阻燃剂的作法,也有越来越多的限制。支援下一代绿色设计的记忆体必需满足提高性能、增加功率密度、改进可靠性、降低功耗并避免使用有害物质等诸多要求,而这也就是今年市场推出最新一代SDRAM电脑记忆体DDR4的背景情况。


本文将探讨各种不含卤素(halogen-free)的DDR4插座的开发工作,并且根据严格的JEDEC DDR4规范和IEC 61249-2无卤素依从性,讨论了各种不同的外壳材料选项。我们检测了各种高性能聚合物,比如液晶聚合物(liquid crystal polymer, LCP)、聚醯胺4T和不同的聚邻苯二甲醯胺(polyphthalamide, PPA),并且重点探讨与关键参数相关的特性,比如连接器可靠性、针脚滞留力(retention force)、翘曲,以及匹配PCB的线性热膨胀系数(CLTE)等。



图一a
图一a

图一b : 根据各种选项总结的DDR要求和材料特性
图一b : 根据各种选项总结的DDR要求和材料特性

图一 a所示为同时用于SMT和超低侧高(ultra-low-profile, ULP) DDR4连接器测试的材料。对于DDR4应用,回流焊接期间的零起泡和优秀的共面性(co-planarity)是两个关键的限定子(qualifier;简写Q),这两项设计要求外壳材料具有最高的热性能和机械性能。图一b所示为PTH和压入配合(press-fit)设计的相同视图。关键的限定子就是波峰焊期间不起泡和出色的共面性。其它较不重要的设计参数就是所谓的差异要求 (differentiator;简写D)。


DDR4连接器端接方法

端接(termination)是指用来连接一个端子和一个导体的方法,良好的端接可确保稳固的电气接触,而气密连接则可防止腐蚀。 DDR4连接器的常用端接方法有:


‧ 表面黏着技术(SMT)(这是设计趋势)


‧ 针脚通孔(PTH)(目前的主流技术)


‧ 通孔回流焊(Pin in Paste)(主要用于整合式全功能PC)


‧ 压入配合(主要用于电信)



图二 : DDR4设计中的多种组装技术
图二 : DDR4设计中的多种组装技术

连接器设计细节上的差异可以直接引起外壳材料的选择问题。例如,通孔回流焊(Pin-In-Paste)和表面黏着(SMT)设计必须采用极高温的塑胶,​​因为它们在装配期间必须经受回流焊步骤。这种完全符合RoHS标准要求的连接器将会暴露在摄氏260~280度范围的无铅 (lead-free)安装温度。连接器外壳选择材料必须具有极端的机械和热性能,以承受约10秒的峰值温度。而且,材料必须在低吸湿性和高表面张力之间取得适当的平衡,这样可避免高温红外回流焊(IR-reflow)制程期间形成的所谓的气泡。


以上要求对于PTH设计来说则较为不重要,因为在PTH设计中,PCB在装配期间可充当热遮罩使用。这类连接器外壳的有效暴露温度大约比回流焊的低摄氏15度。


通孔回流焊(Pin-in-paste)基本上是回流焊和引脚通孔(PTH)连接器设计的结合,但实际装配仍然是在回流焊的制程中进行。压入配合装配期间不会暴露在这样​​的温度下,因此原则上可以使用各种低温塑胶。然而,由于大多数OEM厂商喜欢在所有设计中都采用DDR连接器等元件,所以最佳的成本和设计,以及供应链灵活性都不得不取决于是否选择高温塑胶。


连接器翘曲

当连接器被焊接到PCB上而失去共面性时,就会发生连接器翘曲 (warpage) 的情况。这种翘曲是一种复杂的现象,受各种参数的影响,比如用于连接器外壳的材料热变形温度(heat distortion temperature;HDT)、塑胶壳体和PCB之间比较热膨胀系数(comparetive thermal expansion; CTE)的不同,以及外壳材料的流动性,以及外壳注塑成型(injection molding)期间产生的相关应力。


线性热膨胀系数(CLTE)

为了在FR4或最新的无卤素(halogen-free)PCB上达到良好的连接器共面性,必须尽量使线路板和连接器外壳材料间的CLTE可以相互匹配。另外,需要结合负载下的高硬度和高偏转温度(high deflection temperature;HDT),确保回流焊后低翘曲。


流动性

为了生产高品质的DDR4连接器,同时保持OEM厂商可承担的成本,制造商所寻找外壳材料的流动性需尽可能得大,并满足其它关键的设计要求,如共面性。使用高流动性材料在注塑成型制程中填充了数量大的模腔(cavity)。而且,通过注塑机的单一注射,可以生产出更多的外壳,从而降低制造成本。同时,使用高流动性材料意味着外壳的应力耐受较小,因为连接器​​装配期间在较高暴露温度下的应力较小。结果,连接器可能会翘曲,而特别地,两端的讯号针脚可能失去与PCB的电气连接,从而产生的维修成本将远远超过制造成本。


传统上,当注塑厂商或连接器制造商寻求高流动性材料时,液晶聚合物(LCP)通常是他们首选的材料。



图三 : 各种绝缘材料的流动性
图三 : 各种绝缘材料的流动性

图三所示是为DDR4连接器测试的各种材料的流动长度(flow length)。流动性越高,填充模腔越容易,并且可以在注塑期间使用更多的模腔。红色的条状线表示用于PTH外壳的8模腔设计的最低流动性水准,以及用于ULP或SMT外壳的4模腔设计的最低流动性水准。蓝色条状线以下的材料具有极小的余量,无法实现高模腔模具设计,或者在大量生产期间带来重大的处理问题。从流动性的角度来看,LCP表现最佳的性能,其次是PA46、PA66和PA4T。


虽然LCP具有出色的流动性,并且能够达到DDR3及前代产品可接受的要求,但从DDR4开始,所有的LCP材料都深受翘曲问题的困扰,原因是DDR4连接器具有显著提高的设计复杂性、更薄的壳壁、更窄的宽度和更矮的高度,以及更多的针脚数目。


图四显示DDR4连接器在装配前后的翘曲,上面的是LCP材料;而下面的是PA4T和PA46材料。在注塑时,两种材料所产生的翘曲都差不多。然而,在组装到PCB上后,LCP外壳表现出了明显的翘曲,在翘曲方向上有变化,使设计中的任何预测和翘曲校正几乎不可能实现。针对此一问题,LCP材料供应商现在可提供较新的LCP/PPS混合材料,其中PPS的更高硬度可改善某些弯曲,并已用于DDR3,但仍不能满足DDR4所要求的共面性等级。



图四: 焊接到PCB上的DDR连接器的翘曲影响
图四: 焊接到PCB上的DDR连接器的翘曲影响

图四下面的部分是采用PA4T或PA46材料的DDR4外壳,装配后的翘曲显著降低,远低于0.1 mm规范。此外,两种聚醯胺都没有显示出翘曲方向的任何变化,能够实现良好的翘曲预测和校正。


热变形温度

HDT在DDR4连接器的可靠性上还具有非常重要的作用。在装配到PCB上时,过低的HDT会导致连接器的侧壁轻微塌陷。此塌陷将增加所需要的记忆体模组插拔力。在插座的插拔期间,连接器的薄弱部分可能会出现裂缝;或插拨次数会大幅减少。图六所示为连接器侧壁的此类塌陷。



图五 : 不同聚合物的HDT-A(1.8MPa)
图五 : 不同聚合物的HDT-A(1.8MPa)

需要达到蓝色部分的温度范围,以确保低翘曲和避免连接器侧壁的塌陷。


要求塑胶材料具有高HDT,只有PA46 和PA4T材料具有保持高可靠性所需的高温度范围。


针脚滞留力

针脚滞留力将端子固定在外壳的腔体中。这可防止端子脱出或端子变松。通常,称为柄脚(tang)的锁定装置使用类似弹簧的压力,将端子固定在外壳壁上。 “对外壳的接触滞留力”规范描述了拔出正确安装端子所需要的力量。


图六: 当绝缘材料的HDT过低时,DDR4连接器在焊接期间发生侧壁塌陷
图六: 当绝缘材料的HDT过低时,DDR4连接器在焊接期间发生侧壁塌陷

间距大小从DDR3的1mm缩减到DDR4的0.85 mm,增加了对于针脚滞留力的挑战(DDR4要求至少0.3kgf/针脚)。因为记忆体连接器规定了大约25次的插拔次数(请参见图七左边),在现场使用中,对于连接器和整个线路板的品质和可靠性,较大的针脚滞留力是很重要的。在记忆体模组拔出时,连接器外壳必须牢固地附着在针脚上。过低的针脚滞留力会带来致命的故障,使得产品要送回修理,这不仅代价昂贵,还会损害OEM厂商的商誉。特别是在电信领域或金融领域,这样的故障是完全不可接受的,制造商必须设计具有5至10年使用寿命的产品。



图七: 过低的针脚滞留力可能会导致致命的故障
图七: 过低的针脚滞留力可能会导致致命的故障

针脚滞留力在很大程度上取决于所用外壳材料的类型,而且也深受连接器和引脚设计的影响。例如,对于超低侧高(ultra-low-profile, ULP)设计,由于设计具有较大的补偿,因此可以让它有较广泛的针脚滞留力材料容差(material tolerance)。在针脚通孔设计中灵活性较小,正确地选择塑胶材料成为连接器品质和可靠性的关键因素。



图八: 不同绝缘材料在焊接前后的针脚滞留力,用于SMT和ULP设计的材料(左)和用于PTH及压入配合设计的材料(右)
图八: 不同绝缘材料在焊接前后的针脚滞留力,用于SMT和ULP设计的材料(左)和用于PTH及压入配合设计的材料(右)

图八显示了ULP和SMT设计中PA4T的突出性能,在焊接前后提供了尽可能大的针脚滞留力。对于PTH连接器的针脚滞留力,PA46材料被发现是同类最佳的,在焊接后还能保持所要求的0.3kgf/针脚。其它材料如PAs (PA10T、PA6T/66)或PA66,可能在连接器组装期间提供足够的滞留力,但在焊接后却大大减小,低于规定的0.3 kgf/针脚。使用这类材料,品质和可靠性会受到影响,并存在着装配期间的高返修风险,或者多次使用的回修风险。将这些材料用于DDR4连接器并不能获得高成本性能比。


结论

聚醯胺PA46和PA4T是目前用于DDR1到DDR3设计的参考材料,要成功地开发DDR4设计不仅要求要深入地了解应用和材料,而且连接器制造商、材料供应商和主要的OEM厂商都必须密切地合作。


DDR4的挑战性设计以及来自先前DDR3技术的各种改变,大大地提高了对于机械强度、针脚滞留力和流动性的应用要求。由于PA46具有出色的流动性和机械特性组合,所以是最适合PTH和压入配合设计的材料。 PA4T具有大约高出25°C的熔融点,更高的表面张力和更低的吸湿性,被认为是SMT和ULP设计的首选材料。


翘曲已经是伺服器内使用DDR3连接器的关键挑战,随着SMT、ULP和VLP设计的使用增加,每个伺服器电路板上的DDR插座数目不断增加,翘曲已经变得是愈来愈有挑战性了。 PA46 和PA4T材料具有突出的共面性,显著地降低了代价昂贵的PCB回修和返工风险,高翘曲性和低机械强度使得LCP无法符合DDR4技术应用的要求。


电子产业愈来愈重视可持续性发展,聚焦于避免使用有害物质,不仅要符合欧盟的RoHS 指令2011/65/ EU,而且还要完全符合IEC61240-2-21的无卤素要求。聚醯胺PA46和PA4T可确保完全符合无卤素阻燃剂的要求,从而避免了连接器生产商或OEM厂商对合格性进行进一步重新验证的需求。 (本文作者为Molex公司Dr. S. Hubert Leni, M. Soh, P.W. Kiong;DSM 工程塑料 - S.H. Quah, S.W. Ong, J. Krijgsman, J. Hsieh, Dr. T.Sidiki)


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