匹配修正量测和移除嵌入 有助突破信号产生极限

为满足产业不断变化的技术需求，无线通讯工具的发展脚步未曾停歇。藉由扩展信号频宽、实现高阶调变，以及采用空间多工技术，可大幅提高无线通讯的资料速率。增加的频宽亦有助於增进使用者的资料传输体验。使用者对无线网路服务品质有极高的期??，促使业者致力於强化通讯系统的可靠性和效能。而实现卓越产品开发的要素则在於降低不确定性，因此，藉助模拟来彻底执行无线测试的概念便应运而生。

目前市面上有各式各样、适用於不同量测配置的测试夹具可供选择，从简单的缆线，到配备分离器、耦合器和信号调节的复杂夹具，应有尽有，以协助设计工程师持续评估待测装置（DUT）的效能。藉由校验或移除嵌入测试夹具，设计工程师可消除测试夹具中固有的系统误差，避免其影响待测装置的效能。他们通常在量测配置中加入向量信号产生器（VSG）和信号分析仪，以便评估DUT的效能。而测试夹具导致量测结果不准确的主因则来自於路径损耗和频率响应。

路径损耗是一个需加以妥善管理的已知问题。在传输过程中不断损耗的信号能量，会导致传输到量测平面的功率，低於信号产生器的输出信号。而频率响应的误差，包括振幅和相位误差，则会影响瞬时频宽。频率响应可量测输出信号的振幅和相位，以作为输入频率的函数。如果特定频宽的频率响应不平坦，将损及输入信号的振幅和相位。即便在射频频率下，较宽的频宽也同样地特别容易受到频率响应的影响。
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