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利用START工具實現用戶自定義之記憶體測試方式
 


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開始時間﹕ 三月十九日(四) 14:00 結束時間﹕ 三月十九日(四) 14:40
主辦單位﹕ 芯測科技
活動地點﹕
聯 絡 人 ﹕ 聯絡電話﹕
報名網頁﹕ https://attendee.gotowebinar.com/register/3504732201349138955
相關網址﹕ http://www.istart-tek.com/activity?i=36

現今各種電子產品功能日趨複雜,系統晶片設計需要更多的記憶體,而系統晶片設計廠商也正面臨著產品對成本與節能等各方面的需求。芯測科技的核心技術在於特有的可程式化暨管線式架構記憶體測試技術與特有架構的記憶體修復技術,並且透過各項專利加以保護,能夠和客戶緊密合作與提供技術支援,以便協助客戶完成高品質設計,增加產品競爭力。

【Outline】

-iSTART-TEK芯測科技與公司願景

-利用自定義演算法以滿足特殊測試需求

-Programmable algorithm 功能應用介紹

-結論

【費用】免費

本活動採線上報名,報名者經主辦單位審核通過後,主辦單位會以電子郵件確認報名成功。主辦單位保留最後審核受邀名單之權利。

【注意事項】

*20分鐘演說+ 10分鐘問答

*全程中文演說

*請使用公司mail註冊


 
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