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爱德万测试叁展2017德州沃斯堡国际测试会议
 

【CTIMES/SmartAuto 陳復霞整理 报导】   2017年10月30日 星期一

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半导体测试设备供应商爱德万测试 (Advantest Corporation) 将在10月31日至11月2日於美国德州沃斯堡 (Fort Worth) 盛大举行的2017国际测试会议 (International Test Conference,ITC) 展示硬体与线上测试解决方案,并发表技术论文与海报。爱德万测试持续担任ITC白金级赞助商。

爱德万测试於10月31日-11月2日叁展2017德州沃斯堡国际测试会议展示最新IC测试解决方案并发表技术论文
爱德万测试於10月31日-11月2日叁展2017德州沃斯堡国际测试会议展示最新IC测试解决方案并发表技术论文

展示产品

爱德万测试位於218号的摊位将展出随选CloudTesting服务和EVA100类比/混合讯号IC测试解决方案最新功能。

首创先例的CloudTesting服务让用户可以随时从爱德万测试网站直接选用各式测试方法 (IP)。只要利用此种随选线上服务,设计师即可在IC从晶圆厂一送达公司,在不需要资本支出之下以最低的费用成本, 在几小时内建立相关测试环境来验证新的矽智财。来到爱德万测试ITC摊位的叁观者,将可以实地体验到CTS桌上型测试系统如何以STIL格式产生之DFT Pattern来快速地验证IC。爱德万测试CloudTesting提供测试机免费租用服务及最实惠的维护成本,协助客户避免预期以外的支出。

爱德万测试EVA100类比/混合讯号测试解决方案结合模组化架构设计和高电压、高精确度类比叁数量测单位,使用弹性大,可因应广泛的类比与混合装置各种测量需求。EVA100产品家族最新机型能提供整合式伺服??路功能,达到业界最短的测试时间与最高精确度。其18位元A/D转换器拥有20位元线性度DC表现,以及超低飘移/杂讯源与叁考电压 (VREF),搭配高度直觉式的图形使用者介面 (GUI),用户得以大幅缩短其最新IC产品的上市时间。

论文发表

除了产品展示以外,爱德万测试的专家也将於ITC着名的技术议程发表最新论文。

10月31日下午1:30,爱德万测试的AT Sivaram将於企业论坛 (Corporate Forum) 时段发表 ”CloudTesting Service Simulator Interfaces”。11月1日上午8:30,爱德万测试的Bob Bartlett将主持第四场会议 “Dealing with Jitter and Leveraging Light”。同场会议中,爱德万测试的石田雅裕 (Masahiro Ishida) 与一山清隆 (Kiyotaka Ichiyama) 将於上午9:30发表论文 ”A Jitter Separation and BER Estimation Method for Asymmetric Total Jitter Distributions”。同日上午10:30,Don Blair将主持第八场会议,主题为 ”Interfaces, iJTAG and DDR Testing”。

同样在星期三,爱德万测试将在中午12:00至下午2:00於ITC海报发表议程的海报一 (Poster 1) 与 海报二 (Poster 2) 位置展示最新技术,资讯如下:

海报一:”Multisite PMIC Fast Trimming with Pattern-based Search Function”,发表人:爱德万测试Kevin Fan

海报二:”Delay Fault Testing Using Cloud Testing Service”,发表人:爱德万测试AT Sivaram、 Oyama Yasuji,与美国高通 (Qualcomm) 的Sam El Alam、Arul Subbarayan

關鍵字: 半导体测试设备  国际测试会议  愛德萬  Advantest 
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