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工研院与安立知共同建置400GE测试平台
 

【CTIMES/SmartAuto 陳復霞整理 报导】   2017年09月25日 星期一

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工研院拟於2017年底前完成高速量测实验室建置,将成为亚洲当中与400GE & Silicon Photonics 相关应用的测试实验室,对於台湾未来计画发展成为高速光电元件研发重镇的目标注入了一剂强心针。此外,该实验室也将开放接受产学研各界进行所需量测之委托服务,工研院将率先与Anritsu安立知合作,提供单通道测试速率最高可达56Gbaud PAM4以及56Gb/s NRZ之误码率分析测试系统。

MP1800A误码测试平台具备56Gbaud PAM4/NRZ测试讯号产生与误码分析功能,提供400GE Device/Module验证能力。
MP1800A误码测试平台具备56Gbaud PAM4/NRZ测试讯号产生与误码分析功能,提供400GE Device/Module验证能力。

该测试系统结合了包含宽频光频谱分析仪 (Optical Spectrum Analyzer)、高精密度脉冲波型产生器 (PPG) 以及高灵敏度误码侦错分析模组 (ED),能够提供高品质反应速度 (fast Tr/Tf)、低讯号抖动与杂讯 (Low Jitter & Noise) 以及高振幅 (High Amplitude)的PAM4/NRZ测试讯号输出,并且支援高灵敏度、即时性的误码侦错分析功能。对於高速雷射收发模组以及矽光子(Silicon Photonics)等相关元件,可准确分析其特性以及发射与接收能力。

Anritsu安立知MP1800A讯号品质分析仪是一款模组式设计的误码率测试仪,其内建的多通道脉冲讯号产生器(PPG)与误码侦测器(ED)模组能够提供高品质的误码率分析功能。透过搭配不同的远端测试平台(Remote Probe Head),可弹性地同时支援包括 28G/56G NRZ与28G/56Gbaud PAM4测试,并且能够输出高达 4.4 Vp-p (最大差动讯号) 的高振幅测试讯号。此外,透过多通道的PPG同步功能可个别控制PAM4讯号的3个眼图振幅,无需使用外部驱动放大器,即可提供高可再现性的光调变器评估测试。

该远端测试平台也内建PAM4 解码与 CTLE 功能,搭配 28Gbit/s 高灵敏度ED模组,可支援即时之PAM4误码率量测功能,对於提高系统之量测分析能力有相当大的帮助。此外,MS9740A 宽频光频谱分析仪亦能针对光电半导体以及相关被动元件提供高品质分析以及讯号检测功能。

工研院电光系统所??所长高明哲表示:「在即时影音需求带动下,网路流量不断成长,云端数据中心 (Data Center) 急需 400G Ethernet 传输介面支援,以因应爆炸性的网路流量成长。 工研院将进行对应雷射元件、光电二极体和矽光子开发研究,提供 400GE 所需的光学元件与收发器技术,进而提升台湾产业能力。」Anritsu安立知公司总经理陈逸桦补充说明:「Anritsu 安立知很荣幸能与工研院合作,此一合作验证了 MP1800A 讯号品质分析仪的误码测试能力,同时肯定了 Anritsu 安立知长期致力光纤通讯与高速电路领域的成果,Anritsu 安立知深信这些能力亦将有助於为工研院提供最隹的测试环境。」

關鍵字: 400GE  测试平台  误码测试  高速量测实验室  宽频光频谱分析仪  安立知  工研院 
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