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ADI微机电加速度计实现结构缺陷的早期侦测
 

【CTIMES/SmartAuto 編輯部 报导】   2016年10月05日 星期三

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亚德诺半导体(ADI)宣布一款三轴微机电(MEMS)加速度计,以极低杂讯进行高解析度振动测量,实现经由无线感测器网路的早期结构缺陷侦测。新的ADXL354和ADXL355加速度计的低功耗,延长了电池寿命,并藉由减少更换电池的时间以延长产品的使用。

ADI三轴微机电(MEMS)加速度计,以极低杂讯进行高解析度振动测量,实现经由无线感测器网路的早期结构缺陷侦测。
ADI三轴微机电(MEMS)加速度计,以极低杂讯进行高解析度振动测量,实现经由无线感测器网路的早期结构缺陷侦测。

低功耗的ADXL354及ADXL355的低杂讯性能表现,使其现在实现低位准的振动测量如结构安全监控(SHM)的应用方案更具成本效益。此外,ADXL354和ADXL355加速度计的倾斜稳定性,提供温度和时间上的绝佳重复性,对于在无人机的定位和导航系统上使用惯性测量单元(IMU产品)及倾斜仪,这是理想的方案。藉由在所有条件下提供重复的倾斜测量,该新款加速度计能够在恶劣环境中无需大规模的校准就能实现最小倾斜误差。

ADXL354和ADXL355加速度计提供保证的温度稳定性与0.15mg/ C(最大值)零偏移系数。此稳定性让与校准和测试结果相关的资源和费用最小化,帮助元件OEM厂商达成更高的产出量。另外,陶瓷封装有助于确保终端产品在出厂后能更长期的符合重复性和稳定性规格。

具备±2g至±8g满刻度范围(FSR)的输出、小于200μA电流消耗下范围从1Hz至1kHz的可选式数位滤波及25μ/Hz的低杂讯密度,ADXL354和ADXL355加速度计提供的性能水准与更加昂贵的元件相较,具备更低的功耗和物料(BOM)成本。

關鍵字: MEMS  无线传感器  加速度计  ADI 
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