是德科技（Keysight）日前宣布中国赛宝实验室（CEPREI Laboratory）采用Keysight EEsof EDA E4727A先进低频杂讯分析仪（A-LFNA）进行闪变杂讯（1/f杂讯）和随机电报杂讯（RTN）的量测与分析，以增进半导体元件（包括MOSFET、HEMT和TFT等）可靠性研究。

是德科技低频杂讯量测系统获中国赛宝实验室采用，以增进半导体元件（包括MOSFET、HEMT和TFT等）可靠性研究。

Keysight EDA的E4727A高效能型低频杂讯分析仪可进行快速、准确且可重复的低频杂讯（LFN）量测。 E4727A支援闪变杂讯和随机电报杂讯的晶圆映射量测和资料分析，并提供可重复和可靠的量测结果，特别适合用于半导体材料和积体电路制程的开发、验证和监测。

赛宝实验室又称中国电子产品可靠性与环境试验研究所，为中国的科技研究机构，致力于电子产品的品质和可靠性研究。直接隶属于中国工业和资讯化部（MIIT）的赛宝实验室，不仅每年为工信部和地方政府的产业管理提供技术支援和服务，同时也为上万家电子资讯公司提供相关服务。

赛宝实验室资深工程师刘远博士表示：「我们经过全面的技术评估后，选择了是德科技的E4727A解决方案。其卓越的效能确保在低系统杂讯下的精确量测，并且拥有业界最宽的频率和偏压量测范围，可支援我们各类元件与应用的研究。我们期待与是德科技在校验方法和标准化方面展开更进一步的合作。」

Keysight EEsof EDA 元件建模产品经理马龙博士表示：「很高兴赛宝实验室成为我们低频杂讯量测系统的另一个新的示范点。低频杂讯是半导体材料和制程中一个非常敏感且重要的指标，目前已广泛用于可靠性、新材料和新型元件研究。是德科技致力于强化与赛宝实验室等各家全球顶尖研究机​​构以及大专院校的合作，以便鼎力支援相关研究工作。」