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Mentor推新晶片測試技術 縮短測試時間4倍
 

【CTIMES/SmartAuto 編輯部 報導】   2020年11月24日 星期二

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人工智慧和自動駕駛等快速演進的應用,對下一代IC提出了更高的性能需求,IC設計規模正以前所未有的速度增長,將數十億顆電晶體整合於一身的積體電路已不再是空談。對IC工程團隊來說, IC設計朝向大規模和更高複雜度發展,就意味著測試這些IC設計所需的時間和成本都在急劇增加,同時規劃和部署DFT架構和功能所需的工作量也在增長。

Mentor推出全新Tessent Streaming Scan Network軟體,採用以匯流排為基礎的掃描數據分配架構,可同時測試任意數量的核心,進行高速數據分配,有效處理核心之間的不平衡,大幅縮短測試時間
Mentor推出全新Tessent Streaming Scan Network軟體,採用以匯流排為基礎的掃描數據分配架構,可同時測試任意數量的核心,進行高速數據分配,有效處理核心之間的不平衡,大幅縮短測試時間

為了協助晶片測試團隊因應這些挑戰,Mentor, a Siemens business為其Tessent TestKompress 軟體推出了Tessent Streaming Scan Network技術。此解決方案包括嵌入式基礎架構和自動化功能,可把模塊級DFT需求從頂層可利用的測試資源中獨立開來,實現無需妥協的層次化DFT流程,大幅簡化DFT的規劃和建置,同時將測試時間縮短4倍。此方案還完全支援區塊(tiled)設計,並針對相同內核進行了設計優化,是新興運算架構的理想選擇。

Mentor Tessent矽晶生命週期解決方案副總裁暨總經理Brady Benware表示:「由於設計規模、先進技術節點和使用模型要求的持續增加,IC測試的複雜度也在大幅上升,這為IC設計團隊帶來了嚴苛挑戰。借助於新的Tessent Streaming Scan Network,我們的客戶可以減少測試建置的工作量,降低製造測試成本,為未來的設計做好準備。」

Tessent Streaming Scan Network軟體採用以匯流排為基礎的掃描數據分配架構,可同時測試任意數量的核心,進行高速的數據分配,有效處理核心之間的不平衡,並以固定成本測試任意數量的相同核心,從而實現測試時間的大幅縮短。該技術還在每個核心中提供了一個隨插即用的介面,可以簡化掃描的時序收斂,非常適用於相鄰的區塊。

該解決方案是由每個設計模組中的一系列主(host)節點相互連接而組成。每個主節點會在模組中的網路和測試結構之間分配數據。此軟體可自動執行建置、測試向量產生和故障反向映射過程。DFT工程師可充分優化每個模組的DFT測試資源,無需擔心對設計的其他部分造成影響,這將有助於減少建置的工作量。同時,此解決方案還透過對相同核心的優化處理、消除測試數據的浪費、以及時分復用技術(time multiplexing),顯著降低測試數據的數量,有效減少測試時間。

三星電子設計技術團隊副總裁Sangyun Kim表示:「透過在Tessent TestKompress中增加Tessent Streaming Scan Network技術,我們能為客戶提供可擴充的測試接入解決方案,不論是當今還是未來的先進IC設計均可適用。Tessent Streaming Scan Network無需很高的工作量,便能使複雜設計具備高度的可測試性。」

在Tessent TestKompress產品中增加Tessent Streaming Scan Network功能,是Mentor在先進階層式DFT建置和測試數據頻寬管理領域累積了十多年的研發成果,Mentor與多家領先的半導體製造商合作開發了此項技術。

Tessent Streaming Scan Network可與其他的Tessent DFT產品完全相容,並與Tessent Diagnosis具單元感知和佈局感知的診斷相結合,以提供端到端的缺陷偵測和診斷解決方案。Tessent DFT的所有產品均屬於Tessent Safe生態系統,並具有一整套通過認證的ISO 26262檔檔案,可用於所有的ASIL ISO 26262專案。

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