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立錡與宜特共同揭示MEMS G-Sensor檢測合作成果
 

【CTIMES/SmartAuto 編輯部 報導】   2015年01月13日 星期二

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立錡科技與宜特科技宣布一項MEMS檢測合作成果,雙方針對立錡積極開發的MEMS G-Sensor提出最佳分析除錯解決方案。基於宜特建構出的一代MEMS G-Sensor標準失效分析流程,2013年雙方已有成功的合作經驗;2014年在二代MEMS分析技術,再度攜手合作,順利協助立錡在MEMS設計階段釐清失效因素,此分析技術更獲得ISQED(國際品質電子設計研討會)認可。

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隨智慧型產品、穿戴式裝置與物聯網的需求下,MEMS G-Sensor元件需求量逐步放大,IC設計公司積極佈局,渴望取得市場先機,佔有一席之地。

「立錡是IC設計公司中積極佈局MEMS的廠商之一,宜特與立錡長期共同合作,從產品研發至試產階段,釐清MEMS G-Sensor失效因素,提供全方位整合服務,協助立錡加快設計、產品設計定案與產品上市的時程。」宜特科技故障分析工程處處長許如宏表示。

許如宏進一步指出,宜特運用二代MEMS分析技術,順利的將MEMS G-Sensor「全質量塊」在無應力狀態下移除,移除後即觀察到底層「固定質量塊」下方的接合處毀損;該失效異常點與電子異常訊號,經檢測後為一致,即為失效真因。

立錡科技品保處處長翼景雲表示:「雙方長期在產品可靠度與失效分析的合作基礎上,此次立錡在投入MEMS G-Sensor產品開發之時,在設計階段即緊密合作,宜特提供許多專業性的建議與支持,其快速且完整的MEMS最佳解決方案,實是立錡在MEMS產品驗證上的重要夥伴之一。」(編輯部陳復霞整理)

圖:在iST宜特MEMS二代失效分析下,可觀察出失效G-Sensor元件結構接合處毀損。

關鍵字: MEMS(微機電G-Sensor  穿戴式裝置  物聯網  IC設計  立錡  宜特  記憶元件  電子感測元件 
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