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提早發現測試問題 PXI架構具前瞻性
 

【CTIMES/SmartAuto 王岫晨 報導】   2014年02月27日 星期四

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目前NI的VST三個主要的產品包括5644R、5645R與5646R。5644R與5645R同時都擁有80MHz頻寬,不同之處在於IC設計的客戶經常反應許多儀器只能直接測試RF,但這些客戶的IC打出來的訊號是低頻的基頻訊號(Base band),他們需要儀器將這些訊號提升到RF頻率。

PXIe-5646R的頻寬一次達到200MHz,測試功能將不再受限。
PXIe-5646R的頻寬一次達到200MHz,測試功能將不再受限。

美商國家儀器行銷經理郭皇志指出,放眼目前大部分儀器商的RF儀器,都是由儀器內部直接產生一個高頻的RF訊號,使用者沒辦法自行產生低頻,再經由儀器來做升頻。

這種功能雖然在市面上某些舊款儀器上可以找到,不過具有這些功能的儀器通常太過老舊,而新款儀器卻又缺乏這些功能。因此NI針對客戶的需求,在5645R儀器中加入了IQ Differential的輸入與輸出,可滿足IC設計與學術研究方面的使用。

至於新一代的5646R,量測頻寬直上200MHz,這比LTE-A最大頻寬的100MHz還高出一倍。換句話說,如果客戶想跨不同的頻段,200MHz的儀器就能讓工程師在進行超過100MHz的Inter-Frequency band載波聚合測試時,不需再使用第二台儀器來打出基地台的訊號,而是只需要一台200MHz的儀器就可以做到。

郭皇志說,NI讓儀器的頻寬一次達到200MHz,不僅可以滿足11ac的160MHz需求,也讓工程師可以測試達LTE-A 100MHz的兩倍頻寬,功能上將不再受限。

至於傳統儀器受限於線材10MHz頻寬的限制,也使得PXI架構的優勢開始發酵,許多量測廠商開始將LTE開發平台轉向PXI介面。PXI平台可以有效解決儀器間的同步問題,這也可看出PXI架構當初在設計時的前瞻性。

事實上,NI在設計RF儀器之初,就已經預想到客戶未來將面臨的挑戰。提早發現問題,並加以解決,提供客戶最優質的測試工具。客戶未來將不會為了標準的更新,而必須再花一筆費用來升級或購買硬體。

關鍵字: PXI  NI 
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