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Tektronix發布雙脈衝測試解決方案 加速SiC和GaN驗證時間
 

【CTIMES/SmartAuto 劉昕 報導】   2023年06月08日 星期四

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Tektronix今日宣布推出新版雙脈衝測試解決方案(WBG-DPT解決方案)。各種新型的寬能隙切換裝置正不斷推動電動汽車、太陽能和工業控制等領域快速發展,Tektronix WBG-DPT解決方案能夠對SiC和GaN MOSFET等寬能隙裝置提供自動化、可重複和高準確的量測。

Tektronix發布以示波器為基礎的雙脈衝測試解決方案,加快SiC和GaN技術的驗證時間
Tektronix發布以示波器為基礎的雙脈衝測試解決方案,加快SiC和GaN技術的驗證時間

下一代電源轉換器的設計人員現在能夠利用WBG-DPT解決方案自信而快速地最佳化其設計。WBG-DPT解決方案能夠在Tektronix 4、5和6系列MSO示波器上執行,無縫整合至示波器的量測系統中,擁有多項業界首創的量測功能,例如自動WBG偏移校正技術和逆向恢復時序圖,讓工程師更容易看到疊加在單一顯示畫面上的多個脈衝逆向恢復細節。量測的設計還符合JEDEC和IEC雙脈衝測試和二極體逆向恢復標準。

Tektronix主流產品組合總經理Daryl Ellis表示:「Tektronix客戶是下一代尖端電力電子技術的設計者,他們必須對設計進行最佳化,以在效率、尺寸和可靠性之間找到平衡點。我們相信Tektronix WBG-DPT解決方案的設計將能提供簡化的除錯程序、可重複的量測(根據JEDEC和IEC標準)和更快的學習曲線。測試自動化縮減了測試時間和重新測試錯誤,確保我們的客戶都能滿足他們的專案時間表和上市時間計劃。」

Qorvo的系統工程師Masashi Nogawa表示:「WBG-DPT軟體在執行雙脈衝測試時提供關鍵參數的暫態量測,例如EON、EOFF和QRR。此軟體可以使功率波形和標記以視覺化方式立即顯示整合範圍,用來計算能量損耗。相較於將波形資料匯出到Excel試算表中進行處理,這提供了一個絕佳的替代方案。」

為了進行有意義的能量損耗量測,設計人員必須校正測試夾具和探棒導入的延遲。校準汲極至源極電壓(VDS)和汲極電流(ID)量測的傳統技術需要針對測試設定重新佈線,並審慎地進行預測試量測。

WBG-DPT解決方案的主要特點:

WBG-DPT解決方案的業界首創WBG偏移校正技術不需重新佈線,甚至可以在進行雙脈衝量測後執行。為了模擬測試設定中延遲的影響,軟體會產生校準波形。工程師只需調整一些設定,即可讓校準波形與量測波形相符,因為軟體會校正延遲中的任何差異。這個新流程可將偏移校正時間從一個小時(或更長時間)減少為僅5至10分鐘。

由於電源轉換器必須在各種溫度條件下運作,因此越來越需要在不同的結點溫度下量測輸出電荷(QOSS)。Tektronix WBG-DPT解決方案擁有快速準確的QOSS量測,提供對裝置輸出電容影響的重要深入見解。

Tektronix WBG-DPT解決方案提供業界首創的逆向恢復時序圖,讓工程師能夠輕鬆查看疊加在單一顯示畫面上的多個脈衝逆向恢復細節。這些量測符合JEDEC和IEC標準,使用者可以在WBG解決方案中設定量測,以查詢每個第一或第二個脈衝,或是雙脈衝集中所有脈衝的結果。

這個獨特的逆向恢復繪圖方法允許設定多個雙脈衝集,並可對每個集合提供可視的量測結果。此量測可在逆向回復區域中輕鬆放大,甚至可以除錯系統的逆向恢復參數。

關鍵字: SiC  GaN  Tektronix(太克
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