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爱德万测试推出高产能记忆体测试机 整合预烧及记忆体测试於单一系统
 

【CTIMES/SmartAuto 报导】   2020年04月01日 星期三

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半导体测试设备供应商爱德万测试 (Advantest Corporation)发表最新多功能、高产能H5620记忆体测试机,能针对DRAM和LPDDR(低功耗双存取同步动态随机存取记忆体)装置进行预烧及记忆体单元测试。

5G技术时代来临,全球DRAM位元消耗预估将在2023年近??翻倍,而此波需求成长背後的主要推手,正是持续成长的资料处理和行动通讯市场,不仅资料中心要求更多记忆体,智慧型手机解析度升级、新增摺叠功能和多镜头设计等也是原因。随着记忆体IC平均售价持续缩水,半导体制造厂不可免的需要另辟蹊径,缩减测试成本、扩大产量。

效能优异的爱德万测试最新测试系统,能够满足这样的需求。H5620在生产环境中,能以100-MHz频率和高达200Mbps的资料传输率,平行测试超过1.8万个元件。此外,H5620能因应工厂自动化需求,还有具备个别热控制稳定度的双温箱结构,支援从-10。C到150。C大温度范围测试。

不仅如此,新系统结合原有记忆体单元测试与记忆体生产设备的预烧测试流程,不仅有助客户降低资本支出,也能节省工厂空间。

爱德万测试记忆体自动化测试设备事业群??总Takeo Miura表示:「这款测试机兼顾优异生产力与低廉测试成本,为检验现今最新DRAM元件的测试标准树立了新标竿。」

H5620使用具备多元工具组合的FutureSuite?作业系统。有了这套软体,测试机很容易能与爱德万测试原本的记忆体测试系统相容。另外,爱德万测试全球支援网也能立即提供客户在程式编码、除错、关联性分析和维修等方面的协助。

最新H5620测试机台已开始出货给客户,H5620ES工程模型也将於2020年第二季准备就绪。

關鍵字: 爱德万测试 
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