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【CTIMES/SmartAuto 林佳穎报导】   2010年07月05日 星期一

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巨有科技(pgc)于日前宣布,暨采购SoC测试机台后,近期已再新添购Credence D-10和Chroma 3650系列的测试设备,以扩充及提升整体SoC测试服务的能力与效率。特别针对MCU、无线基频、显示驱动、LED / LCD驱动、Power IC、NAND flash controller、Switch和消费性混合讯号组件和PC 周边相关的IC等,提供完整且具成本效益的整体测试解决方案。

巨有科技扩充SoC测试设备
巨有科技扩充SoC测试设备

根据巨有科技表示,该测试方案配备完整的测试模块,如逻辑模块、ADC/DAC模块、ALPG内存模块、高电压模块和SCAN模块,可大幅降低产品原有的工程开发及量产测试成本,不但具备高产能及多功能的晶圆片和封装成品测试能力,能明显提供客户高质量及低成本优势,以适应目前对价格日益敏感的市场变动及需求。

巨有科技总经理赖志贤并表示,处于系统单芯片的时代潮流,IC测试与验证经常需要比IC设计开发时间多出数倍,因此,如何有效协助顾客解决及突破IC测试方面的技术问题及相关瓶颈,巨有科技除了在设计时间导入可测性设计如: DFT(Design for Test)、ATPG、Memory-BIST、Boundry Scan等设计工具环境之外,也持续投资全套完整的SoC芯片实体测试与验证之设备机台。

此外,赖总经理更进一步说明,SoC产业会随着科技趋势之演变,使得IC的设计难度提高,相对的IC产品的测试困难度也随之提高而造成产品开发上的瓶颈,相对于其他IC设计服务公司因不具备所需之测试设备,而选择将IC测试工作采取委外的运作方式,巨有科技提供给客户是一条鞭之全方位测试服务环境,利用内部自有的测试设备除了可降低整体测试成本。

關鍵字: Soc  SoC量测  安捷伦  巨有科技 
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