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Tektronix推出全新Double Pulse Test软体 有效简化电源效率测试
 

【CTIMES/SmartAuto 报导】   2019年10月09日 星期三

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Tektronix今天宣布为其AFG31000任意/函数产生器推出全新的软体扩充应用程式,让工程师可在不到一分钟的时间内执行关键的双脉冲测试,与替代方法相较,显着地节省了大量的时间。

现在使用者可在一分钟内就完成用於量测和评估SiC、GaN电源装置切换叁数的关键双脉冲测试
现在使用者可在一分钟内就完成用於量测和评估SiC、GaN电源装置切换叁数的关键双脉冲测试

借助全新Double Pulse Test软体的强大功能,工程师可在一分钟内从AFG31000大型触控式萤幕显示器上的单一视窗快速定义脉冲叁数,然後产生执行测试所需的脉冲。此应用程式提供了脉冲宽度的阻抗调整以及每个脉冲之间的时间间隔(最多30个脉冲)。脉冲宽度范围可从20ns至150μs。

Tektronix的Keithley产品线??总裁暨总经理Chris Bohn表示:「新型AFG31000设计宗旨就是要让使用者能轻松设定测试系统、快速变更叁数,并以高效率和稳定性执行一系列测试案例,而全新的Double Pulse Test扩充应用程式正是另一个铁证。这对於电源工程师而言,不仅意味着生产力的显着提升,更意味着可以节省大量成本,并缩短产品上市的时间。」

电源和半导体行业的研究人员以及设计和测试工程师会使用双脉冲测试来量测与评估电源装置的切换叁数和动态变化,包括由宽频带间隙材料如碳化矽(SiC)和氮化??(GaN),所制成的装置。

为了执行双脉冲测试,工程师需要精确地产生至少两种具有不同脉冲宽度和时序的电压脉冲,以触发MOSFET或IGBT电源装置。而量测则是使用如Tektronix 5 系列 MSO的示波器进行。但是,对於现今的测试设备而言,产生这些脉冲始终是一项挑战,迫使研究人员和工程师必须使用PC或微控制器手动建立波形,但此方法不仅耗时且容易出错。

AFG31000重新定义了任意/函数产生器

去年推出的AFG31000已重新定义任意/函数产生器,并拥有多项同级产品中业界第一的特点,包括最大的触控式萤幕、全新的使用者介面、获得专利且可自动侦测并补偿阻抗不相符的InstaView技术功能、可程式设计的波形排序,以及可轻松建立和编辑任意波形的全新ArbBuilder工具。

AFG31000系列仪器配备9寸触控式萤幕显示器,并具有单通道或双通道配置,可提供14位元垂直解析度以及250MSa/s、1 GSa/s或2 GSa/s取样率效能。

此外,客户现在可从官网上下载适用於AFG31000的双脉冲测试软体。

關鍵字: Tektronix 
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