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愛德萬最新V93000測試系統 解決百萬兆級運算測試挑戰
 

【CTIMES/SmartAuto 報導】   2020年09月25日 星期五

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半導體測試設備供應商愛德萬測試(Advantest Corporation)針對運算效能達百萬兆級(Exascale)的先進數位IC ,發表最新次世代V93000測試機。該系統搭載最新測試頭,結合Xtreme Link科技及EXA Scale通用數位和電源供應卡,不僅能支援最新測試方法,更能降低測試成本、縮短產品上市時程。

愛德萬測試最新V93000 EXA Scale世代在V93000架構上解決當前面臨的極端測試挑戰。所有EXA Scale卡都配備愛德萬測試最新一代8核心的測試處理器,以獨特的能力加速並簡化測試工作。
愛德萬測試最新V93000 EXA Scale世代在V93000架構上解決當前面臨的極端測試挑戰。所有EXA Scale卡都配備愛德萬測試最新一代8核心的測試處理器,以獨特的能力加速並簡化測試工作。

現今先進半導體製程帶來技術的變革,得以即時整合來自物聯網(IoT)、手持裝置、汽車和大型伺服器等等無數個資料來源。隨著行動處理器、高效能運算 (HPC) 和人工智慧 (AI) 晶片持續進化,需要處理的資料量也跟著爆炸性成長。新的測試挑戰伴隨這些進步接踵而來,譬如極大量的掃描數據、極端電源需求、快速的良率學習和多工同測的配置,在在都需要解決。

愛德萬測試最新V93000 EXA Scale世代在已獲業界肯定的V93000架構上,運用創新技術解決上述挑戰。所有EXA Scale卡都配備愛德萬測試最新一代8核心的測試處理器,以獨特的能力加速並簡化測試工作。此外,V93000 EXA Scale系統還採用愛德萬測試專利Xtreme Link科技,乃是專為自動測試設備 (ATE) 所設計的通訊網路,能執行高速資料連接、嵌入式運算能力以及即時卡對卡 (card-to-card) 通訊。

這套系統的最新Pin Scale 5000數位卡,正是為了伴隨著大量數位設計所導致的爆炸性成長的掃描資料而設計。Pin Scale 5000以可達5Gbit/s的速度為掃瞄測試奠定了新標準,同時提供市面上深度最大的向量記憶體,並運用Xtreme Link科技,實現業界最快的處理速度。有了這項科技,客戶便能為自家晶片選擇最有效率的掃描方法。

在供電電壓小於1V同時能提供高達好幾千安培的超高電流需求下,使得ATE的電力傳輸能力成為決定性關鍵。XPS256電源供應卡是另一項業界創新,配備單一DPS卡就能涵蓋所有電源需求:極細粒度電源 (fine-granular power)、無限量且具彈性的結夥 (ganging),以及超凡的動態與靜態效能。

Pin Scale 5000數位卡及XPS256電源供應卡均具備256個通道,在保有V93000高度整合優勢的同時,使得密度倍增。多工同測的設置可以部署在較小型的實體系統上,藉此減少基礎架構成本和空間需求。

愛德萬測試V93000事業部常務總監暨執行副總Juergen Serrer表示:「當我們逐步邁向百萬兆級運算時代,客戶在效能、測試成本、品管以及量產時程等方面所面臨的極端測試挑戰,全都能透過EXA Scale為久經淬煉之V93000平台注入的創新技術獲得解決。」

可擴充的解決方案拓及各式大小的測試頭,並具備在單一測試系統上,針對數位、射頻、類比和電源等等混合元件功能進行測試的能力。

V93000 EXA Scale世代依舊嚴守愛德萬測試對於平台相容性的承諾。現有V93000測試載板和Smart Scale卡,都能與最新V93000 EXA Scale世代無縫接軌,達到最佳資產利用。也藉由延續使用獲業界肯定的SmarTest軟體,客戶更能受益於已擁有龐大建置基礎的軟體架構和工具。

愛德萬測試已向多家客戶出貨數十套V93000 EXA Scale系統。

關鍵字: 測試處理器  愛德萬 
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