高功率半導體市場的需求重塑測試與量測技術

包括半導體產業的許多電子領域，正著重在提高能源效率，其包括能源產生、傳輸和運轉效率的提高。功率半導體元件在馬達控制、電壓調節和功率轉換等應用中作為開關或阻隔元件。新型的“綠能”元件提供更低的漏電流、低導通電阻或是兩者，並建立新的測試和量測要求。 　

吉時利最新16頁SMU儀器選擇指南

實現半導體材料和元件特性分析，吉時利提供最多選擇和最佳性能的SMU儀器和半導體特性分析系統。

利用大功率電源電錶儀器建構多台電源量測單元(SMU)系統

功率半導體元件的特性分析或直流參數測試可以分為兩種：開啟狀態特性分析和關閉狀態特性分析。本應用筆記對這兩種測試應用進行說明，並列出利用各種吉時利電源量測單元(SMU)儀器所建構的測試系統實例。

數位多功能電錶最新指南

您不僅會得到有用的選擇指南和產品訊息外，同時也可獲得下列重要議題的八個應用文件：
•電阻率和電導率類型的測定
•連接器的生產測試解決方案
•峰值檢測
•熱敏電阻器的生產測試
•開關/讀取率最佳化
•高亮度發光二極體的高速測試
•低功率接觸阻抗(LLCR)針插座測試
•交換式電源供應器的老化測試技術

吉時利導體元件和材料特性分析電子指南

無論您是為研發或者生產測試尋找特性分析技術，您都會在吉時利材料和元件最新線上指南中獲得。 有了這個免費電子指南，你能即時線上得到：
•應用文件

•網路研討會

•展示與更多訊息！

吉時利最新電子手冊: 各類型訊號的開關考量事項指南

根據測試訊號的類型，採用特定的開關切換技術，以確保整體開關系統中訊號的完整性。該電子手冊介紹了各種測試訊號的開關技術。
32頁的電子手冊涵蓋了下列類型的訊號切換技術：
•電壓開關
•電流開關
•電阻開關
•電抗性負載訊號
•射頻和微波開關
•數位訊號開關
另外，你還會獲得：
•開關術語表
•開關卡和模組選擇指南

吉時利量測準確性確保指南

吉時利最新指南將帶給您許多主題的應用文件、白皮書和網絡研討會。
半導體參數分析
化合物半導體元件/材料的脈衝I-V測試
太陽能電池的的C-V特性分析
新興元件/材料的低電流量測
積體電路的IDDQ測試
奈米元件的量測
聚焦離子束電流監測
石墨烯結構的霍爾量測
小晶體的特性分析
高功率半導體元件測試

最新電子手冊:瞭解如何進行低電壓和低電阻精密量測

低電壓和低電阻量測通常在低阻抗元件和材料上進行。本電子手冊討論了幾種在低電壓量測中可能的誤差來源，以及如何減少其對量測準確度的影響，和低電阻量測中潛在的誤差源。

最新電子書:低電流和高電阻精密量測

本電子手冊提供了一個應用於低電流和高電阻量測儀器和技術的總覽。下載吉時利最新的電子書。您將了解更多有關下列主題：
•量測電路
•漏電流與抑制
•雜訊和電源阻抗
•零點漂移
•產生電流
•過載保護 •交流干擾和衰減
•庫倫計低電流量測
•恆定電壓方法
•恆定電流方法
•漏電抑制
•穩定時間

提高型號4200-SCS半導體特性分析系統量測速度和整體測試時間

今日電子元件測試和特性分析已與以往截然不同。無論是在一個龐大的半導體製造工廠或一個小研究機構中，工程師必須進行比以往更加複雜、高精度的量測。

型號4200-SCS半導體特性分析系統實現高阻抗元件的極低頻電容-電壓量測

半導體元件的電容量測通常由橋式儀器使用交流技術來實現。這些交流儀器通常從兆赫到幾十赫茲的頻率範圍內進行電容和阻抗量測。然而，要獲得MOSCAP、薄膜電晶體(TFT)和MEMS結構的特定測試參數，往往需要進行更低頻率-電容量測。低頻率的C-V量測也應用於一些材料緩慢電荷捕捉/散逸現象的特性分析。具有準靜態(或近似直流)C-V量測能力的儀器常常用於這些低頻率阻抗應用。

型號4200-SCS半導體特性分析系統和3400系列脈衝/碼型產生器實現電荷汞量測

電荷汞量測廣泛應用於MOSFET元件的界面能態密度特性分析。隨著高介電(highk)閘極材料的發展，電荷汞已證實在高介電薄閘極薄膜上電荷捕捉現象的特性分析特別有用。在薄閘極薄膜中，由於載子的量子力學閘極穿隧，會造成相當大的漏電流。因此，同時進行準靜態和高頻C-V量測值擷取和比較的界面陷阱密度的傳統技術就無法應用，因為準靜態C-V量測是很難在漏電流準位上實現。

型號4200-SCS半導體特性分析系統實現光電材料和太陽能電池的電氣特性分析

隨著綠能需求日益增加和大量尚未開發的太陽能潛力，太陽能轉換技術日益重要。因此，將太陽光直接轉換成電能的太陽能電池的需求越來越大。太陽能光伏(PV)電池由半導體材料建構，其吸收陽光中的光子，然後釋放電子，當電池連接到負載時，形成電流流動。各種量測應用於太陽能電池性能的特性分析，包括它的輸出和效率。電氣特性分析是光伏電池和材料的研發和製造過程中的一環。

新式大型LED測試挑戰:高功率LED模組

發光二極體（LED）自1960年出現以來，原本常用於指示燈和七段顯示器。近年來，LED設計已經演變為新類型的應用。今日的高亮度發光二極體（HBLED），其應用包括汽車顯示器和外部燈光、電視和視頻監視器的背光、路燈、戶外標誌、室內照明，以及其他照明和顯示應用的不斷擴大陣列。電源量測單元（SMU）儀器，一般是被公認最適合於LED測試，同時具有電源和量測功能，其通常是由兩個獨立的儀器整合成單一同步操作

非揮發性記憶體技術的脈衝I-V特性分析

長達20頁的吉時利最新應用筆記：非揮發性記憶體技術的脈衝I-V特性分析。

吉時利超快速（脈衝） I-V應用指南

瞭解更多超快速I-V電源和量測技術，其應用於化合物半導體、中功率元件、非揮發性記憶體、MEMS（微機電元件）、奈米元件、太陽能電池和CMOS元件等特性量測。

吉時利2012年產品目錄

吉時利2012版測試與測量產品目錄是一種完整的測試與測量資源