SiC MOSFET應用技術在雪崩條件下的魯棒性評估
作者\意法半導體
本文透過模擬雪崩事件,進行非鉗位元感性負載開關測試,並使用不同的SiC MOSFET元件,依照不同的測試條件,評估技術的失效能量和魯棒性。
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